[發明專利]光學斷層圖像獲取裝置

無效

• 申請號: 201380020411.0
• 申請日: 2013-10-08
• 公開（公告）號: CN104246476A
• 公開（公告）日: 2014-12-24
• 發明（設計）人: 田中正人;祖川伊知郎
• 申請（專利權）人: 住友電氣工業株式會社
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 顧紅霞;何勝勇

1.一種光學斷層圖像獲取裝置，包括：

光源，其輸出光；

分路部件，其將自所述光源輸出的光分為基準光和測量光這兩個光束；

基準光學系統，其包括第一光纖、第一聚光透鏡和基準反射鏡，并且構造為：從所述分路部件輸出的所述基準光受到引導而傳播通過所述第一光纖，從而經由所述第一聚光透鏡入射在所述基準反射鏡上，以及在所述基準光入射時由所述基準反射鏡產生的反射光受到引導從而經由所述第一聚光透鏡傳播通過所述第一光纖；

測量光學系統，其包括第二光纖和第二聚光透鏡，并且構造為：從所述分路部件輸出的所述測量光受到引導而傳播通過所述第二光纖，從而經由所述第二聚光透鏡施加在測量物上進行照射，以及在用所述測量光進行照射時由所述測量物產生的反射光受到引導而作為物體光經由所述第二聚光透鏡傳播通過所述第二光纖；

檢測器，其接收由從所述基準光學系統輸出的所述反射光與從所述測量光學系統輸出的所述物體光之間的干涉得到的干涉光，并且利用包括設置為陣列的多個光接收元件的光譜儀檢測所述干涉光的光譜；以及

分析單元，其基于所述檢測器所檢測的結果獲取所述測量物的光學斷層圖像，

其中，假定δk是所述光譜儀的所述多個光接收元件中的相鄰兩個光接收元件所接收的光的波數的間隔的最大值，光程L0ref是從所述分路部件通過前往且返自所述基準反射鏡的路徑而到達所述檢測器的光程，以及光程L0obj是從所述分路部件通過前往且返自所述測量物的路徑而到達所述檢測器的光程，它們滿足以下表達式：

|L0obj-L0ref|<π/δk

并且，

光程L1ref是從所述分路部件通過前往且返自所述第一聚光透鏡的路徑而到達所述檢測器的光程，以及光程L1obj是從所述分路部件通過前往且返自所述第二聚光透鏡的路徑而到達所述檢測器的光程，滿足以下表達式：

|L1obj-L1ref|>π/δk。

2.一種光學斷層圖像獲取裝置，包括：

波長可變的光源，其輸出光；

分路部件，其將自所述光源輸出的光分為基準光和測量光這兩個光束；

基準光學系統，其包括第一光纖、第一聚光透鏡和基準反射鏡，并且構造為：從所述分路部件輸出的所述基準光受到引導而傳播通過所述第一光纖，從而經由所述第一聚光透鏡入射在所述基準反射鏡上，以及在所述基準光入射時由所述基準反射鏡產生的反射光受到引導而經由所述第一聚光透鏡傳播通過所述第一光纖；

測量光學系統，其包括第二光纖和第二聚光透鏡，并且構造為：從所述分路部件輸出的所述測量光受到引導而傳播通過所述第二光纖，從而經由所述第二聚光透鏡施加在測量物上進行照射，以及在用所述測量光進行照射時由所述測量物產生的反射光受到引導而作為物體光經由所述第二聚光透鏡傳播通過所述第二光纖；

檢測器，其接收由從所述基準光學系統輸出的所述反射光與從所述測量光學系統輸出的所述物體光之間的干涉得到的干涉光，并且檢測處于從所述波長可變的光源輸出的光的各波長下的所述干涉光的強度；以及

分析單元，其基于所述檢測器所檢測的結果獲取所述測量物的光學斷層圖像，

其中，假定δk是當所述檢測器檢測所述干涉光的強度時光的波數的間隔的最大值，光程L0ref是從所述分路部件通過前往且返自所述基準反射鏡的路徑而到達所述檢測器的光程，以及光程L0obj是從所述分路部件通過前往且返自所述測量物的路徑而到達所述檢測器的光程，它們滿足以下表達式：

|L0obj-L0ref|<π/δk

并且，

光程L1ref是從所述分路部件通過前往且返自所述第一聚光透鏡的路徑而到達所述檢測器的光程，以及光程L1obj是從所述分路部件通過前往且返自所述第二聚光透鏡的路徑而到達所述檢測器的光程，它們滿足以下表達式：

|L1obj-L1ref|>π/δk。

3.根據權利要求1或2所述的光學斷層圖像獲取裝置，其中，所述基準光學系統包括設置在所述第一光纖的中途的第一光學元件，

所述測量光學系統包括設置在所述第二光纖的中途的第二光學元件，并且

光程L2ref是從所述分路部件通過前往且返自所述第一光學元件的路徑而到達所述檢測器的光程，以及光程L2obj是從所述分路部件通過前往且返自所述第二光學元件的路徑而到達所述檢測器的光程，它們滿足以下表達式：

|L2obj-L2ref|>π/δk。

4.根據權利要求1或2所述的光學斷層圖像獲取裝置，其中，所述基準光學系統包括第一循環器和第一光學元件，所述第一循環器設置在所述第一光纖的中途并且朝所述檢測器分出由反射鏡產生的所述反射光，所述第一光學元件設置在所述第一循環器與所述第一聚光透鏡之間，

所述測量光學系統包括第二循環器和第二光學元件，所述第二循環器設置在所述第二光纖的中途并且朝所述檢測器分出由所述測量物產生的所述物體光，所述第二光學元件設置在所述第二循環器與所述第二聚光透鏡之間，并且

光程L3ref是從所述分路部件通過前往且返自所述第一光學元件的路徑而到達所述檢測器的光程，以及光程L3obj是從所述分路部件通過前往且返自所述第二光學元件的路徑而到達所述檢測器的光程，它們滿足以下表達式：

|L3obj-L3ref|>π/δk。