[發(fā)明專利]試樣分析元件以及檢測(cè)裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201380020394.0
• 申請(qǐng)日: 2013-04-12
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104321639A
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-01-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 杉本守;尼子淳;西田秀明
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 精工愛(ài)普生株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G01N21/65
• 分類號(hào): G01N21/65
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

1.一種試樣分析元件，其特征在于，

在電介質(zhì)表面具備多列金屬納米體列，所述金屬納米體列包含以小于入射光的波長(zhǎng)的第一節(jié)距排列成一列的多個(gè)金屬納米體，

所述多列金屬納米體列以大于所述第一節(jié)距的第二節(jié)距并排排列。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的試樣分析元件，其特征在于，

所述金屬納米體列彼此之間形成有不含金屬納米體的區(qū)域。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的試樣分析元件，其特征在于，

所述試樣分析元件具備：

金屬膜；以及

電介質(zhì)，在所述金屬膜的表面擴(kuò)展并構(gòu)成所述電介質(zhì)表面。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的試樣分析元件，其特征在于，

所述第二節(jié)距的大小設(shè)定為，用于在比在所述金屬納米體生成的局域表面等離子體共振的共振波長(zhǎng)短的波長(zhǎng)確立反射率的1次極小值，并且在比局域表面等離子體共振的共振波長(zhǎng)長(zhǎng)的波長(zhǎng)確立比1次高的高次的極小值。

5.一種檢測(cè)裝置，其特征在于，

所述檢測(cè)裝置具備：

根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的試樣分析元件；

光源，向所述金屬納米體列發(fā)射光；以及

光檢測(cè)器，根據(jù)所述光的照射檢測(cè)從所述金屬納米體列發(fā)射的光。