[發明專利]自動分析裝置

有效

• 申請號: 201380018759.6
• 申請日: 2013-03-29
• 公開（公告）號: CN104246510A
• 公開（公告）日: 2014-12-24
• 發明（設計）人: 中澤隆史;鈴木慶弘;有賀洋一
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;李家浩

1.一種自動分析裝置，具備：

試樣盤，其載置收納了被分析試樣、標準液、精度管理試樣的試樣容器；

第一試劑盤，其載置收納了用于反應的試劑的試劑容器；

反應盤，其載置反應容器，該反應容器使得從載置在上述試劑盤中的試劑容器分注后的試樣和從載置在上述第一試劑盤中的試劑容器分注后的試劑進行反應；

光度計，其檢測透過上述反應容器的光；

第二試劑盤，其載置收納了用于反應的試劑的試劑容器，并且與上述第一試劑盤分開設置；以及

試劑容器輸送機構，其在上述第一試劑盤和上述第二試劑盤之間輸送試劑容器，

上述自動分析裝置使用被輸送到上述第一試劑盤的試劑容器所保持的試劑和上述標準液來實施校準，

上述自動分析裝置使用被輸送到上述第一試劑盤的試劑容器所保持的試劑和上述精度管理試樣來實施精度管理測量，

上述自動分析裝置的特征在于，

通過上述試劑容器輸送機構將設置在上述第二試劑盤中的試劑容器開拴后，輸送到上述第一試劑盤，

具備運算控制部，其使用被輸送到上述第一試劑盤的試劑容器所保持的試劑，至少執行上述校準和上述精度管理測量中的上述精度管理測量后，使用上述試劑容器輸送機構，使上述試劑容器返回上述第二試劑盤中。

2.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

當上述判定部判定設置在上述第一試劑盤中的試劑容器所保持的試劑的余量為0時，

上述運算控制部使用上述試劑容器輸送機構，將設置在上述第二試劑盤中的、上述精度管理測量已經結束且保持與余量為0的試劑相同種類的試劑的試劑容器從上述第二試劑盤輸送到上述第一試劑盤。

3.根據權利要求2所述的自動分析裝置，其特征在于，

上述運算控制部具備：

判定部，其判定上述第一試劑盤的試劑設置位置是否占滿；和

驅動控制部，其在該判定部判定為占滿后，控制上述試劑容器輸送機構，控制收納了未在測量委托內的分析項目所使用的試劑的試劑容器暫時返回到上述第二試劑盤。

4.根據權利要求3所述的自動分析裝置，其特征在于，

當上述判定部通過過去的履歷判定為使用頻率少的試劑容器后，上述驅動控制部控制上述試劑容器輸送機構，使收納了未在測量委托內的分析項目所使用的試劑的試劑容器暫時返回到上述第二試劑盤。

5.根據權利要求3所述的自動分析裝置，其特征在于，

當上述判定部判定為上述第一試劑盤的試劑容器設置位置有空閑時，上述判定部根據之前的使用實績進行統計處理，判定對于每個分析項目剩余幾個測試數以上，返回到上述第二試劑盤，根據該判定，上述驅動控制部控制上述試劑容器輸送機構，使收納了未在測量委托內的分析項目所使用的試劑的試劑容器暫時返回到上述第二試劑盤。