[發(fā)明專利]保護(hù)元件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380017716.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-03-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104185889A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-12-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 米田吉弘 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 迪睿合電子材料有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01H37/76 | 分類號(hào): | H01H37/76;H01H85/11 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 何欣亭;姜甜 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 保護(hù) 元件 | ||
1.一種保護(hù)元件,其特征在于,包括:
絕緣基板;
發(fā)熱體,層疊在上述絕緣基板;
絕緣部件,以至少覆蓋上述發(fā)熱體的方式層疊在上述絕緣基板;
第1和第2電極,層疊在層疊有上述絕緣部件的上述絕緣基板;
發(fā)熱體引出電極,以與上述發(fā)熱體重疊的方式層疊在上述絕緣部件上,并在上述第1和第2電極之間的電流路徑上與該發(fā)熱體電連接;以及
可熔導(dǎo)體,從上述發(fā)熱體引出電極層疊到上述第1和第2電極,通過(guò)加熱而熔斷該第1電極與該第2電極之間的電流路徑,
上述可熔導(dǎo)體由至少包含高熔點(diǎn)金屬層和低熔點(diǎn)金屬層的層疊體構(gòu)成,
上述低熔點(diǎn)金屬層因上述發(fā)熱體產(chǎn)生的熱而熔化,從而浸蝕高熔點(diǎn)金屬層,并且被吸引到上述低熔點(diǎn)金屬的濕潤(rùn)性高的上述第1和第2電極以及上述發(fā)熱體引出電極側(cè)而熔斷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的保護(hù)元件,其特征在于,上述低熔點(diǎn)金屬層由無(wú)鉛焊錫構(gòu)成,上述高熔點(diǎn)金屬層由Ag或者Cu或以Ag或者Cu為主成分的金屬構(gòu)成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1~2中任一項(xiàng)所述的保護(hù)元件,其特征在于,在與上述第1和第2電極以及上述發(fā)熱體引出電極連接的位置中,上述可熔導(dǎo)體以低熔點(diǎn)金屬連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的保護(hù)元件,其特征在于,上述可熔導(dǎo)體是內(nèi)層為高熔點(diǎn)金屬層、外層為低熔點(diǎn)金屬層的包覆結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的保護(hù)元件,其特征在于,上述低熔點(diǎn)金屬層以至少貫通一部分的上述高熔點(diǎn)金屬層的方式形成。
6.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的保護(hù)元件,其特征在于,上述可熔導(dǎo)體是內(nèi)層為低熔點(diǎn)金屬層、外層為高熔點(diǎn)金屬層的包覆結(jié)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的保護(hù)元件,其特征在于,上述可熔導(dǎo)體是上層為高熔點(diǎn)金屬層、下層為低熔點(diǎn)金屬層的2層結(jié)構(gòu)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1~7中任一項(xiàng)所述的保護(hù)元件,其特征在于,在上述第1和第2電極以及上述發(fā)熱體引出電極的表面,實(shí)施有Ni/Au鍍層、Ni/Pd鍍層或Ni/Pd/Au鍍層的任一種鍍層處理。
9.根據(jù)權(quán)利要求1~8中任一項(xiàng)所述的保護(hù)元件,其特征在于,在上述發(fā)熱體與上述絕緣基板之間設(shè)有絕緣部件層。
10.根據(jù)權(quán)利要求1~9中任一項(xiàng)所述的保護(hù)元件,其特征在于,上述低熔點(diǎn)金屬層的體積大于上述高熔點(diǎn)金屬層的體積。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的保護(hù)元件,其中,上述可熔導(dǎo)體是內(nèi)層為低熔點(diǎn)金屬層、外層為高熔點(diǎn)金屬層的包覆結(jié)構(gòu),成為內(nèi)層的上述低熔點(diǎn)金屬層的整個(gè)面被上述高熔點(diǎn)金屬層包覆。
12.根據(jù)權(quán)利要求1或權(quán)利要求11所述的保護(hù)元件,其中,上述可熔導(dǎo)體是內(nèi)層為低熔點(diǎn)金屬層、外層為高熔點(diǎn)金屬層的包覆結(jié)構(gòu),在上述第1和第2電極上經(jīng)由導(dǎo)電性膏連接。
13.根據(jù)權(quán)利要求1或權(quán)利要求11所述的保護(hù)元件,其中,上述可熔導(dǎo)體是內(nèi)層為低熔點(diǎn)金屬層、外層為高熔點(diǎn)金屬層的包覆結(jié)構(gòu),在上述第1和第2電極上通過(guò)焊接連接。
14.根據(jù)權(quán)利要求1或權(quán)利要求11所述的保護(hù)元件,其中,上述可熔導(dǎo)體是內(nèi)層為低熔點(diǎn)金屬層、外層為高熔點(diǎn)金屬層的包覆結(jié)構(gòu),在成為內(nèi)層的低熔點(diǎn)金屬層的表面包覆有上述高熔點(diǎn)金屬層,在該高熔點(diǎn)金屬層的表面包覆有第2低熔點(diǎn)金屬層。
15.根據(jù)權(quán)利要求1或權(quán)利要求11所述的保護(hù)元件,其中,上述可熔導(dǎo)體是內(nèi)層為低熔點(diǎn)金屬層、外層為高熔點(diǎn)金屬層的包覆結(jié)構(gòu),上述低熔點(diǎn)金屬層與上述高熔點(diǎn)金屬層的層厚比為2.1:1~100:1。
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