[發(fā)明專利]使用波長偏移光纖耦合閃爍檢測器進(jìn)行X射線檢查

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201380016922.5
• 申請(qǐng)日: 2013-02-04
• 公開（公告）號(hào): CN104204854B
• 公開（公告）日: 2017-05-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: A.阿羅德澤羅;J.卡勒拉梅;D-C.丁卡;R.蘇德;L.格洛德津斯;M.羅梅爾;P.羅斯希爾德;J.舒伯特
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 美國科技工程公司
• 主分類號(hào): G01T1/20
• 分類號(hào): G01T1/20;G01V5/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所11105
• 代理人: 高巍

1.一種x射線檢測器，其特征在于厚度和面積，所述x射線檢測器包括：

a.第一閃爍體介質(zhì)的第一空間，用于將入射的x射線輻射的能量轉(zhuǎn)換成第一閃爍光；

b.第一多個(gè)波長偏移光波導(dǎo)，其被基本上準(zhǔn)直成在與所述第一閃爍體介質(zhì)的所述第一空間連續(xù)的第一閃爍光吸收區(qū)域上彼此平行，以引導(dǎo)源自所述第一閃爍光且處于比所述第一閃爍光的波長更長的波長上的光；

c.第二閃爍體介質(zhì)的第二空間，用于將已經(jīng)經(jīng)過第一空間的入射穿透輻射的能量轉(zhuǎn)換成第二閃爍光；

d.第二多個(gè)波長偏移光波導(dǎo)，其被基本上準(zhǔn)直成在與所述第二閃爍體介質(zhì)的所述第二空間連續(xù)的第二閃爍光吸收區(qū)域上彼此平行，以引導(dǎo)源自所述第二閃爍光且處于比所述第二閃爍光的波長更長的波長上的光；

e.第一光電檢測器，用于檢測通過所述第一多個(gè)波長偏移光波導(dǎo)引導(dǎo)的處于第一波長上的光子，并用于生成第一檢測器信號(hào)；

f.第二光電檢測器，用于檢測通過所述第二多個(gè)波長偏移光波導(dǎo)引導(dǎo)的處于第二波長上的光子，并用于生成指示入射的x射線通量的第二檢測器信號(hào)。

2.如權(quán)利要求1所述的x射線檢測器，進(jìn)一步包括用于在特定時(shí)間段期間將所述第一檢測器信號(hào)和第二檢測器信號(hào)進(jìn)行積分的積分電路。

3.如權(quán)利要求1所述的x射線檢測器，其中，所述閃爍體介質(zhì)包括氟氯化鋇。

4.如權(quán)利要求1所述的x射線檢測器，其中，所述光電檢測器包括光電倍增器。

5.如權(quán)利要求1所述的x射線檢測器，其中，所述檢測器厚度的平方除以所述檢測器的面積的結(jié)果小于0.001。

6.如權(quán)利要求1所述的x射線檢測器，其中，所述多個(gè)波長偏移光波導(dǎo)中的至少一個(gè)是缺少包層的光纖，且所述閃爍體介質(zhì)的特征在于，折射率值低于所述光纖的折射率。

7.如權(quán)利要求1所述的x射線檢測器，其中，所述多個(gè)波長偏移光波導(dǎo)被部署在多個(gè)平行平面上，所述平行平面中的每一個(gè)包括所述多個(gè)波長偏移光波導(dǎo)的子集。

8.如權(quán)利要求1所述的x射線檢測器，其中，所述第一閃爍體介質(zhì)和所述第二閃爍體介質(zhì)的特征在于對(duì)于所述入射射束的不同的光譜靈敏度。

9.如權(quán)利要求1所述的x射線檢測器，其中，備選的閃爍體層包括替換光纖耦合BaFCl(Eu)和光纖耦合BaFI(Eu)中的至少一個(gè)的Li⁶F:ZnS(Ag)。

10.如權(quán)利要求1所述的x射線檢測器，其中，所述第一閃爍體介質(zhì)中的第一空間為波長偏移光纖耦合檢測器，其優(yōu)先對(duì)低能量x射線敏感，并且所述第二閃爍體介質(zhì)中的第二空間為塑料閃爍體。

11.如權(quán)利要求1所述的x射線檢測器，進(jìn)一步包括所述閃爍體介質(zhì)的多個(gè)分段，其被部署在橫向于入射射束的傳播方向的平面上。

12.如權(quán)利要求11所述的x射線檢測器，其中，所述閃爍體介質(zhì)的多個(gè)分段經(jīng)由光纖分別耦接至光電檢測器。