[發明專利]觸摸屏、觸摸面板、顯示裝置以及電子儀器有效
| 申請號: | 201380013208.0 | 申請日: | 2013-02-21 |
| 公開(公告)號: | CN104160368B | 公開(公告)日: | 2017-03-08 |
| 發明(設計)人: | 西岡孝博;中川直紀;上里將史;大野岳;森成一郎 | 申請(專利權)人: | 三菱電機株式會社 |
| 主分類號: | G06F3/044 | 分類號: | G06F3/044;G06F3/041 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司11112 | 代理人: | 何立波,張天舒 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 觸摸屏 觸摸 面板 顯示裝置 以及 電子儀器 | ||
技術領域
本發明涉及觸摸屏、觸摸面板、顯示裝置以及電子儀器。
背景技術
作為對由使用者的手指或者筆等指示體所指示出的觸摸屏上的位置(以下有時稱為“觸摸位置”)進行檢測并輸出的裝置,公知有觸摸面板。作為觸摸面板中的觸摸位置的檢測方式,已知多種檢測方式。作為其中的靜電電容方式的觸摸面板的一種,具有投影型靜電電容(Projected?Capacitive)方式的觸摸面板。
投影型靜電電容方式的觸摸面板即使在利用厚度為數mm左右的玻璃板等保護板將觸摸屏的使用者側表面(以下有時稱為“正面側表面”)覆蓋的情況下,也能夠檢測觸摸位置。投影型靜電電容方式的觸摸面板具有下述等優點,即,由于能夠將保護板配置在正面側表面,因此堅固性優異、以及由于沒有可動部,因此具有長壽命。
投影型靜電電容方式的觸摸面板的觸摸屏構成為,具有對列方向的觸摸位置的坐標進行檢測的檢測用列配線、和對行方向的觸摸位置的坐標進行檢測的檢測用行配線(例如,參照專利文獻1)。在以下的說明中,有時將檢測用列配線和檢測用行配線統稱為“檢測用配線”。
在專利文獻1中公開有相當于觸摸面板的觸摸板系統。在專利文獻1中公開的觸摸板系統作為用于檢測靜電電容(以下,有時簡稱為“電容”)的檢測用配線,具有形成在薄的電介質膜上的第1序列的導體元件、和在第1序列的導體元件上隔著絕緣膜而形成的第2序列的導體元件。各導體元件之間沒有電接觸,在從正面側表面的法線方向觀察時的第1序列的導體元件和第2序列的導體元件中的一者與另一者重疊,形成沒有電接觸的交叉部分。
通過利用檢測電路對在手指等指示體與作為檢測用配線的導體元件之間形成的電容(以下有時稱為“觸摸電容”)進行檢測,從而確定指示體的觸摸位置的位置坐標。另外,利用大于或等于1的導體元件的檢測電容的相對值,能夠對導體元件間的觸摸位置進行插補。
在以下的說明中,將在透明電介體基板上配置有檢測用列配線和檢測用行配線的部件稱為“觸摸屏”,將檢測用電路與觸摸屏連接而成的裝置稱為“觸摸面板”。另外,在觸摸屏中,將能夠檢測觸摸位置的區域稱為“操作區域”。
在觸摸屏的操作區域中,為了在各處檢測指示體的觸摸位置,需要將檢測用配線細密地配置在操作區域上。在如上所述將檢測用配線細密地配置在操作區域上的情況下,需要避免檢測用配線被使用者看到的問題。
如果利用例如銦錫氧化物(Indium?Tin?Oxide;簡稱:ITO)等透明導電膜構成檢測用配線,則檢測用配線被使用者看到的可能性變低。但是,ITO等透明導電膜由于電氣電阻(以下,有時簡稱為“電阻”)較高,因此,存在不利于觸摸屏的大型化的問題。另外,ITO等透明導電膜的光透過率(以下,有時簡稱為“透過率”)不太高,因此,在利用液晶顯示元件(Liquid?Crystal?Display;簡稱:LCD)等從觸摸屏的背面側表面,即,從使用者側的相反側照亮觸摸屏而進行使用的情況下,需要較多量的光,存在不利于低消耗電力化的問題。
作為檢測用配線的材料,也能夠使用例如銀或者鋁等低電阻的金屬材料。作為檢測用配線,通過使用由金屬材料構成的配線(以下有時稱為“金屬配線”),從而能夠降低檢測用配線電阻,但金屬配線是不透明的,因此,存在容易被看到的問題。為了降低金屬配線的可見性、且提高觸摸屏的透過率,需要將金屬配線細線化。
如果將細線化后的金屬配線作為檢測用配線使用,而細密地配置在觸摸屏的操作區域上,則會產生檢測用列配線和檢測用行配線之間的寄生電容(以下有時稱為“線間電容”)大幅度增大的問題,例如引起配線延遲增大這樣的問題。
對于配線延遲,通過減少配線電阻,從而能夠一定程度地緩和配線延遲。為了緩和配線延遲,例如在專利文獻2中公開了減少配線電阻的技術。
在專利文獻2中公開的觸摸屏,通過使檢測用列配線以及檢測用行配線形成為分別將直線狀且細線狀的金屬配線連結而成的鋸齒形圖案,從而同時實現了低電阻化和線間電容的減少。
另外,在專利文獻2中公開的觸摸屏中,將大致在行方向上延伸設置的多條檢測用行配線電氣連接,而形成行方向的束配線,并且,將大致在列方向上延伸設置的多條檢測用列配線電氣連接,而形成列方向的束配線。由此,能夠對由手指等指示體和檢測用行配線之間的電容、以及指示體和檢測用列配線之間的電容構成的觸摸電容進行均勻地檢測。
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