[發(fā)明專利]用于臨時接合超薄晶片的方法和裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380012296.2 | 申請日: | 2013-03-09 |
| 公開(公告)號: | CN104145330B | 公開(公告)日: | 2017-05-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | G·喬治;S·盧特爾 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇斯微技術(shù)光刻有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京中創(chuàng)陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司11003 | 代理人: | 尹振啟 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 臨時 接合 超薄 晶片 方法 裝置 | ||
相關(guān)同時在審申請的交叉引用
本申請要求2012年3月16日提出的申請?zhí)枮?1/611,627、名稱為“用于臨時接合超薄晶片的方法和裝置”的美國臨時申請的權(quán)益,該申請的內(nèi)容通過引用納入本申請中。
本申請是2010年4月15日提出的申請?zhí)枮?2/760,973、名稱為“熱滑動剝離臨時接合的半導體晶片的裝置”的美國部分繼續(xù)申請,該申請經(jīng)過一并轉(zhuǎn)讓,且其內(nèi)容通過引用明確地納入到本申請中。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于臨時接合超薄晶片的方法和裝置,更特別地涉及包括雙涂覆和雙固化工序的臨時晶片接合。
背景技術(shù)
一些半導體晶片工藝包括晶片的薄化步驟。在一些應(yīng)用中,為了制造集成電路(IC)設(shè)備,晶片被減薄至小于100微米的厚度。薄晶片具有使制造出的IC設(shè)備具有更高的散熱性和更佳的電氣運行特性。在一個例子中,GaAs晶片被減薄至25μm,以便制造散熱性更好的功率互補金屬氧化物半導體(CMOS)設(shè)備。晶片減薄也有助于降低設(shè)備的電容,且有助于增加其阻抗,這兩者均導致所制造設(shè)備整體尺寸的降低。在其他應(yīng)用中,晶片薄化用于3D集成接合并用于通過晶片孔進行制造。
晶片減薄通常通過背面研磨和/或化學機械拋光(CMP)完成。CMP包括在研磨液漿的存在下使晶片的表面與硬質(zhì)平坦的旋轉(zhuǎn)水平盤片接觸。液漿通常含有研磨粉(例如金剛石或碳化硅)以及化學蝕刻劑(例如氨水、氟化物、或其組合)。磨料使基片變薄,而蝕刻劑則將基片表面在亞微米的水平上進行拋光。晶片一直保持與磨料接觸,直至一定數(shù)量基片達到目標厚度而被移走。
對于厚度大于200μm的晶片,用固定裝置將晶片保持在原位,固定裝置利用真空卡盤或其他機械附著手段。但是,對于厚度小于200μm的晶片,尤其是厚度小于100μm的晶片,機械方法保持住晶片變得越來越困難,并在減薄期間維持對晶片平面度和完整性的控制也越來越困難。在這些情形下,在CMP過程中晶片產(chǎn)生微小裂紋或破碎實際上是常見的。
減薄期間晶片機械固定的一個替換方法是將設(shè)備晶片(即晶片擬加工成的設(shè)備)的第一表面貼到載體晶片上,然后將暴露的相對的設(shè)備晶片表面減薄。載體晶片與設(shè)備晶片之間的接合是臨時的,并且一旦減薄和任何其他加工步驟完成即撤除接合。
人們已經(jīng)提出一些臨時接合技術(shù),包括使用熱固化的粘合劑化合物。在這些基于粘合劑的臨時接合技術(shù)中,潤濕的厚粘合劑層涂覆到設(shè)備晶片表面上,使得粘合劑層覆蓋住設(shè)備晶片表面所有的結(jié)構(gòu),包括焊接點、連接器和集成電路(IC)設(shè)備。潤濕粘合劑層具有在25~150μm范圍內(nèi)的典型厚度。然后,使?jié)櫇裾澈蟿优c載體晶片表面接觸,之后固化粘合劑層,從而使設(shè)備晶片接合到載體晶片上。如前面提到的一樣,接合是臨時的,并且處理工序完成后,可以通過用化學品、熱或輻射來溶解粘合劑層,取消接合。
這種工藝的問題之一是:厚粘合劑層引起晶片表面平面度的總厚度變化(TTV)大。TTV的影響主要來自于接合后熱固化工序。特別地,接合后粘合劑層的厚度與TTV誤差大小直接相關(guān)。此外,厚的潤濕粘合劑層增加了晶片接合步驟粘合期間以未固化的狀態(tài)從側(cè)面“擠出”的風險。因此,最好減少用于減薄晶片臨時接合的粘合劑層的厚度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種用于臨時接合和制造超薄晶片的方法和裝置,特別地涉及包括雙涂覆和雙固化工藝的臨時晶片接合方法。
一般地,按照本發(fā)明的一個方面突出了用于臨時接合兩個晶片表面的的方法,包括下列步驟。首先,提供包括彼此相對的第一表面和第二表面的第一晶片;其次,提供包括彼此相對的第一表面和第二表面的第二晶片;接著,將第一粘合劑層涂在第一晶片的第一表面上;接著,將第一粘合劑層固化,從而產(chǎn)生固化的第一粘合劑層;接著,將第二粘合劑層涂在第二晶片的第一表面上;接著,提供包括一個上卡盤組件和一個下卡盤組件的接合器模組,所述下卡盤組件設(shè)置在下方并與上卡盤組件相對。接著,將第一晶片插入接合器模組內(nèi),通過上卡盤組件保持住第一晶片,以使帶有固化的第一粘合劑層的第一晶片的第一表面朝下。接著,將第二晶片插入接合器模組中,并將第二晶片放在下卡盤組件上,以使第二粘合劑層面朝上并與第一粘合劑層相對。接著,向上移動下卡盤組件,使第二粘合劑層與固化的第一粘合劑層接觸,然后將第二粘合劑層固化,從而在第一晶片與第二晶片之間形成臨時接合。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





