[發(fā)明專(zhuān)利]數(shù)字ASIC傳感器平臺(tái)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380008601.0 | 申請(qǐng)日: | 2013-02-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105592794A | 公開(kāi)(公告)日: | 2016-05-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | A·德埃尼斯;A·E·科爾文 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 傳感技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | A61B5/1459 | 分類(lèi)號(hào): | A61B5/1459;A61B5/1473 |
| 代理公司: | 永新專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;張立達(dá) |
| 地址: | 美國(guó)馬*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 數(shù)字 asic 傳感器 平臺(tái) | ||
1.一種用于植入在活體動(dòng)物內(nèi)并且測(cè)量位于所述活體動(dòng)物內(nèi)的培養(yǎng)基 中的分析物的濃度的光學(xué)傳感器,所述光學(xué)傳感器包括:
指示劑分子,具有對(duì)所述分析物的濃度做出響應(yīng)的光學(xué)特性,所述指 示劑分子被配置為當(dāng)所述光學(xué)傳感器被植入在所述活體動(dòng)物內(nèi)時(shí)與位于所 述活體動(dòng)物內(nèi)的所述培養(yǎng)基中的所述分析物交互;
半導(dǎo)體襯底;
第一光電檢測(cè)器,被安裝在所述半導(dǎo)體襯底上或者被制造在所述半導(dǎo) 體襯底中,并且被配置為輸出指示由所述第一光電檢測(cè)器接收的光的量的 第一模擬光測(cè)量信號(hào);
第二光電檢測(cè)器,被安裝在所述半導(dǎo)體襯底上或者被制造在所述半導(dǎo) 體襯底中,并且被配置為輸出指示由所述第二光電檢測(cè)器接收的光的量的 第二模擬光測(cè)量信號(hào),其中,所述第一光電檢測(cè)器和所述第二光電檢測(cè)器 相對(duì)于在所述第一光電檢測(cè)器和所述第二光電檢測(cè)器之間延伸的中心線被 對(duì)稱地布置;
光源,被配置為將激發(fā)光從在所述第一光電檢測(cè)器和所述第二光電檢 測(cè)器之間延伸的中心線上對(duì)齊的發(fā)射點(diǎn)發(fā)射到所述指示劑分子;
溫度換能器,被安裝在所述半導(dǎo)體襯底上或者被制造在所述半導(dǎo)體襯 底中,并且被配置為輸出指示所述光學(xué)傳感器的溫度的模擬溫度測(cè)量信號(hào);
比較器,被制造在所述半導(dǎo)體襯底中并且被配置為輸出指示所述第一 模擬光測(cè)量信號(hào)和所述第二模擬光測(cè)量信號(hào)之間的差異的模擬光差異測(cè)量 信號(hào);
模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),被制造在所述半導(dǎo)體襯底中并且被配置為(i) 將所述模擬溫度測(cè)量信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字溫度測(cè)量信號(hào),(ii)將所述第一模擬 光測(cè)量信號(hào)轉(zhuǎn)換為第一數(shù)字光測(cè)量信號(hào),(iii)將所述第二模擬光測(cè)量信號(hào) 轉(zhuǎn)換為第二數(shù)字光測(cè)量信號(hào)并且(iv)將所述模擬光差異測(cè)量信號(hào)轉(zhuǎn)換為 數(shù)字光差異測(cè)量信號(hào);
感應(yīng)元件;
輸入/輸出電路,被制造在所述半導(dǎo)體襯底中并且被配置為經(jīng)由所述感 應(yīng)元件無(wú)線地傳輸測(cè)量信息,并且經(jīng)由所述感應(yīng)元件無(wú)線地接收測(cè)量命令 和功率;以及
測(cè)量控制器,被制造在所述半導(dǎo)體襯底中并且被配置為:
(i)根據(jù)所述測(cè)量命令,控制所述光源;
(ii)根據(jù)(a)所述數(shù)字溫度測(cè)量信號(hào)、(b)所述第一數(shù)字光測(cè)量信 號(hào)、(c)所述第二數(shù)字光測(cè)量信號(hào)和(d)所述數(shù)字光差異測(cè)量信號(hào)生成所 述測(cè)量信息;以及
(iii)控制所述輸入/輸出電路以便無(wú)線地傳輸所述測(cè)量信息。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)傳感器,其中,所述光學(xué)傳感器是化學(xué)或 者生物化學(xué)傳感器。
3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)傳感器,其中,所述第一光電檢測(cè)器和所 述第二光電檢測(cè)器被制造在所述半導(dǎo)體襯底中。
4.如權(quán)利要求3所述的光學(xué)傳感器,其中,所述第一光電檢測(cè)器和所 述第二光電檢測(cè)器是使用互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)工藝在所述半 導(dǎo)體襯底中被單片地形成的光電二極管。
5.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)傳感器,進(jìn)一步包括位于所述半導(dǎo)體襯底 上的光源安裝墊,并且所述光源安裝墊被配置為使得所述光源當(dāng)被安裝在 所述光源安裝墊上時(shí)具有在所述第一光電檢測(cè)器和所述第二光電檢測(cè)器之 間延伸的所述中心線上對(duì)齊的發(fā)射點(diǎn);并且
其中,所述光源被安裝在所述光源安裝墊上。
6.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)傳感器,進(jìn)一步包括電分離所述第一光電 檢測(cè)器和所述第二光電檢測(cè)器的隔離槽。
7.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)傳感器,進(jìn)一步包括被制造在所述半導(dǎo)體 襯底中的非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)。
8.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)傳感器,其中,所述非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)具 有存儲(chǔ)在其中的測(cè)量校準(zhǔn)信息,并且所述測(cè)量控制器被配置為根據(jù)所述測(cè) 量命令和所述測(cè)量校準(zhǔn)信息控制所述光源。
9.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)傳感器,其中,所述非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)具 有存儲(chǔ)在其中的識(shí)別信息,所述輸入/輸出電路被配置為經(jīng)由所述感應(yīng)元件 無(wú)線地傳輸所述識(shí)別信息,并且所述測(cè)量控制器被配置為控制所述輸入/輸 出電路以便無(wú)線地傳輸所述識(shí)別信息。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于傳感技術(shù)股份有限公司,未經(jīng)傳感技術(shù)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201380008601.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
A61B 診斷;外科;鑒定
A61B5-00 用于診斷目的的測(cè)量
A61B5-01 .測(cè)量一些身體部位的溫度
A61B5-02 .測(cè)量脈搏、心率、血壓或血流;綜合的脈搏/心率/血壓的測(cè)定;其他不是用于測(cè)定心血管狀況的,如使用本小組技術(shù)與心電圖術(shù)結(jié)合的;測(cè)量血壓的心導(dǎo)管
A61B5-03 .測(cè)量體內(nèi)除血壓以外的流體壓力,例如腦壓
A61B5-04 .測(cè)量人體或人體各部分的生物電信號(hào)
A61B5-05 .用電流或磁場(chǎng)的診斷測(cè)量
- 使用逆空間濾波的數(shù)字圖像重建
- 數(shù)字版權(quán)管理交易系統(tǒng)
- 一種數(shù)字證書(shū)自動(dòng)申請(qǐng)方法和裝置及系統(tǒng)
- 用于數(shù)字記憶練習(xí)的數(shù)學(xué)教具
- 一種數(shù)字種類(lèi)的確定方法及裝置
- 數(shù)字資產(chǎn)編碼方法
- 數(shù)字證書(shū)管理方法及設(shè)備
- 數(shù)字媒體水印處理方法、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 數(shù)字亞克力標(biāo)牌
- 一種基于區(qū)塊鏈的數(shù)字資產(chǎn)交易方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- ASIC板冷卻結(jié)構(gòu)
- ASIC板冷卻結(jié)構(gòu)
- MEMS環(huán)境傳感器
- 一種MEMS芯片與ASIC的封裝結(jié)構(gòu)及封裝方法
- 專(zhuān)用集成電路升頻方法
- ASIC陣列、數(shù)據(jù)處理板以及區(qū)塊挖掘方法和設(shè)備
- 超聲設(shè)備和用于制造超聲裝置的方法
- ASIC芯片晶圓的測(cè)試方法、設(shè)備和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)
- 高功率機(jī)器學(xué)習(xí)ASIC中使用指令速率限制的功率節(jié)流機(jī)制
- 一種基于ASIC主控芯片管腳自定義的設(shè)計(jì)和使用方法





