[發明專利]醫用裝置及X射線高壓裝置有效
| 申請號： | 201380004458.8 | 申請日： | 2013-09-04 |
| 公開（公告）號： | CN104011854B | 公開（公告）日： | 2017-03-01 |
| 發明（設計）人： | 石山文雄;廣畑賢治 | 申請（專利權）人： | 東芝醫療系統株式會社 |
| 主分類號： | H01L23/34 | 分類號： | H01L23/34;H01L23/49 |
| 代理公司： | 永新專利商標代理有限公司72002 | 代理人： | 戚宏梅,楊謙 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 醫用 裝置 射線 高壓 | ||
1.一種醫用裝置，其中，具備：
功率器件；
溫度傳感器，檢測溫度數據；
變換處理單元，在將覆蓋所述功率器件的外殼內部的溫度數據和粘接于所述功率器件的焊絲的溫度數據中的至少一方與實測的溫度數據建立了對應的表中，參照由所述溫度傳感器得到的溫度數據，由此得到所述外殼內部的溫度數據和所述焊絲的溫度數據中的至少一方；以及
預測時間運算單元，基于得到的所述溫度數據，計算到所述功率器件故障為止的預測時間。
2.如權利要求1所述的醫用裝置，其中，
所述變換處理單元具有：
波數計數單元，使用以基于所述外殼內部的溫度數據和所述焊絲的溫度數據中的至少一方而得的溫度變化為振幅的波數計數法，針對多個溫度振幅的各溫度振幅計算循環計數；以及
累積損傷值運算單元，基于所述多個溫度振幅和與所述多個溫度振幅分別對應的循環計數，計算累積損傷值；
所述預測時間運算單元基于所述累積損傷值，計算所述預測時間。
3.如權利要求1或2所述的醫用裝置，其中，
還具有：
比較單元，將所述預測時間與閾值進行比較；以及
輸出單元，在所述預測時間低于所述閾值的情況下，輸出該情況。
4.如權利要求3所述的醫用裝置，其中，
所述輸出單元將所述預測時間低于所述閾值的情況，顯示在顯示裝置上，或者經由通信線路向外部裝置發送。
5.如權利要求1或2所述的醫用裝置，其中，
還具有：
比較單元，將所述預測時間與閾值進行比較；以及
條件變更單元，在所述預測時間低于所述閾值的情況下，變更所述功率器件的動作條件。
6.如權利要求2至5中任一項所述的醫用裝置，其中，
所述波數計數單元使用作為所述波數計數法的雨流法，計算所述累積損傷值。
7.一種X射線高壓裝置，其中，具備：
功率器件；
溫度傳感器，檢測溫度數據；
變換處理單元，在將覆蓋所述功率器件的外殼內部的溫度數據和粘接于所述功率器件的焊絲的溫度數據中的至少一方與實測的溫度數據建立了對應的表中，參照由所述溫度傳感器得到的溫度數據，由此得到所述外殼內部的溫度數據和所述焊絲的溫度數據中的至少一方；以及
預測時間運算單元，基于得到的所述溫度數據，計算到所述功率器件故障為止的預測時間。
8.如權利要求7所述的X射線高壓裝置，其中，
所述變換處理單元具有：
波數計數單元，使用以基于所述外殼內部的溫度數據和所述焊絲的溫度數據中的至少一方而得的溫度變化為振幅的波數計數法，針對多個溫度振幅的各溫度振幅計算循環計數；以及
累積損傷值運算單元，基于所述多個溫度振幅和與所述多個溫度振幅分別對應的循環計數，計算累積損傷值；
所述預測時間運算單元基于所述累積損傷值，計算所述預測時間。
9.如權利要求7或8所述的X射線高壓裝置，其中，
還具有：
比較單元，將所述預測時間與閾值進行比較；以及
輸出單元，在所述預測時間低于所述閾值的情況下，輸出該情況。
10.如權利要求9所述的X射線高壓裝置，其中，
所述輸出單元將所述預測時間低于所述閾值的情況，顯示在顯示裝置上，或者經由通信線路向外部裝置發送。
11.如權利要求7或8所述的X射線高壓裝置，其中，
還具有：
比較單元，將所述預測時間與閾值進行比較；以及
條件變更單元，在所述預測時間低于所述閾值的情況下，變更所述功率器件的動作條件。
12.如權利要求8至11中任一項所述的X射線高壓裝置，其中，
所述波數計數單元使用作為所述波數計數法的雨流法，計算所述累積損傷值。
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