[發明專利]饋通線圈組件、帶有饋通線圈組件的測試裝置和測試方法

有效

• 申請號: 201380001511.9
• 申請日: 2013-01-11
• 公開（公告）號: CN103765204A
• 公開（公告）日: 2014-04-30
• 發明（設計）人: M.貝克;F.哈迪奇;S.科赫
• 申請（專利權）人: 霍釋特博士有限兩合公司
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 陳浩然;何逵游

1.?一種用于應用在用于借助于渦流以饋通方法測試長形產品的測試裝置中的饋通線圈組件(100)，其包括：

帶有激勵線圈(122)的激勵線圈組件，其包圍用于沿著饋通方向(192)引導長形產品(190)穿過的通過口(112)，其中，所述激勵線圈組件具有用于所述激勵線圈聯接到交變電壓源(130)處的聯接裝置；和

圍繞所述通過口布置的接收線圈組件，其具有用于所述接收線圈組件聯接到所述測試裝置的評估裝置(150)處的聯接裝置(148)，

其中，所述接收線圈組件具有分布在所述通過口(112)的周緣上的兩個或更多個部段線圈組件(142-1至142-8,?742-1至742-8)，其中，每個部段線圈組件具有檢測區域，其僅覆蓋所述長形產品的表面的周緣的一周緣截段，

其特征在于，

所述部段線圈組件(142-1至142-8,?742-1至742-8)以與所述饋通線圈組件的參考軸線(114)的不同的距離(A1,?A2)分布在包圍所述通過口的至少兩個殼上(S1,?S2)，

其中，第一部段線圈組件(142-1至142-4,?742-1至742-4)無相互重疊地布置在第一殼(S1)上并且，

第二部段線圈組件(142-5至142-8,?742-5至742-8)無相互重疊地布置在第二殼(S2)上，并且

第一和第二部段線圈組件在周向上彼此在周緣上錯位地布置成使得所述第二部段線圈組件檢測不被所述第一部段線圈組件覆蓋的周緣截段。

2.?根據權利要求1所述的饋通線圈組件，其特征在于，第一部段線圈組件(142-1至142-4)以與中央的參考軸線的第一徑向距離(A1)布置在圓柱狀的第一殼(S1)上而所述第二部段線圈組件(142-5至142-8)以不同于所述第一徑向距離的與中央的所述參考軸線的第二徑向距離(A2)布置在圓柱狀的第二殼(S2)上。

3.?根據權利要求1所述的饋通線圈組件，其特征在于，所述殼(S1,?S2)具有不同于圓形的橫截面形狀，優選地橢圓的橫截面形狀、卵形的橫截面形狀或多邊形的橫截面形狀、尤其帶有倒圓的角區域的方形的橫截面形狀。

4.?根據上述權利要求中任一項所述的饋通線圈組件，其特征在于，在殼上、尤其在每個殼(S1,?S2)上布置有偶數個部段線圈組件并且/或者在殼、多個殼或所有殼上設置有至少一對在直徑上相對而置的部段線圈組件。

5.?根據上述權利要求中任一項所述的饋通線圈組件，其特征在于，所有部段線圈組件(142-1至142-8,?742-1至742-8)分別具有差動線圈組件，其中，所述差動線圈組件優選地布置成使得能夠在長形產品的整個周緣處檢測差動信號。

6.?根據上述權利要求中任一項所述的饋通線圈組件，其特征在于，部段線圈組件(542)具有差動線圈組件(520)和絕對線圈組件(530)，其中，優選地所有部段線圈組件具有差動線圈組件和絕對線圈組件。

7.?根據權利要求6所述的饋通線圈組件，其特征在于，所述差動線圈組件(520)和所述絕對線圈組件(530)布置在共同的承載元件(510)處，其中，優選地所述承載元件(510)具有內表面和外表面，其中，差動線圈組件(520)和絕對線圈組件(530)布置在所述承載元件的相同的表面處。

8.?根據上述權利要求中任一項所述的饋通線圈組件，其特征在于，在部段線圈組件(542)中所述差動線圈組件(520)對稱于所述激勵線圈組件(122)的線圈平面來布置而所述絕對線圈組件(530)不對稱于所述線圈平面地至少部分地布置在由所述激勵線圈組件所產生的場的不均勻的場區域(FI)中。

9.?根據上述權利要求中任一項所述的饋通線圈組件，其特征在于，絕對線圈組件(530)對稱于所述激勵線圈組件(122)的線圈平面地在所述線圈平面之前的不均勻的第一場區域中具有第一子線圈組件(530-1)而在所述線圈平面之后的不均勻的第二場區域中具有第二子線圈組件(530-2)，其中，所述第一線圈組件和所述第二子線圈組件反向地接通。

10.?根據上述權利要求中任一項所述的饋通線圈組件，其特征在于，在周緣上錯位的多個絕對線圈組件、尤其所有絕對線圈組件聯接到用于處理在絕對線圈組件處產生的距離信號的距離評估裝置(152)處。