[實(shí)用新型]一種數(shù)字集成電路測試適配器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320879055.5
• 申請日: 2013-12-27
• 公開（公告）號: CN203929809U
• 公開（公告）日: 2014-11-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李杰;劉春來;黎云浩;蔣常斌;高劍;于明
• 申請（專利權(quán)）人: 北京自動測試技術(shù)研究所
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京汲智翼成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11381
• 代理人: 陳曦

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種集成電路測試適配器，尤其涉及一種針對ICN83系列集成電路芯片的數(shù)字集成電路測試適配器，屬于集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

隨著數(shù)字集成電路的廣泛應(yīng)用，集成電路測試系統(tǒng)顯得越來越重要。業(yè)內(nèi)人士經(jīng)過大量觀察發(fā)現(xiàn)，測試基本上是集成電路生產(chǎn)過程中的最大瓶頸。由于集成電路生產(chǎn)過程中的芯片都要經(jīng)過測試，對于大批量集成電路產(chǎn)品的測試來說，最重要的就是減少測試成本。

一般而言，集成電路測試所需要的硬件設(shè)備主要包括測試適配器、測試電路和測試針。其中測試適配器的作用在于將測試設(shè)備的系統(tǒng)資源如測試端口等分配到被測芯片的各個管腳上，它要把測試系統(tǒng)發(fā)出的各種測試信號完整的加載到被測芯片的相關(guān)管腳上，并把被測芯片的響應(yīng)信號完整的傳輸給測試系統(tǒng)。因此集成電路測試適配器的實(shí)質(zhì)是集成電路測試設(shè)備與集成電路芯片之間的信號通道電路板，它已經(jīng)成為集成電路測試系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置之一。

集創(chuàng)北方研發(fā)的ICN83系列手機(jī)觸屏控制芯片是一種互容式觸摸屏檢測芯片。該類芯片支持真實(shí)5點(diǎn)觸控，能有效抑制射頻干擾，報(bào)點(diǎn)率可達(dá)80～100Hz，具有最高20發(fā)送和12個接收檢測通道，功耗也相對較低。該芯片可以應(yīng)用于多種觸屏系統(tǒng)中，包括手機(jī)、智能手機(jī)、PDA、數(shù)碼相機(jī)、GPS/游戲機(jī)、便攜式/平板電腦、移動上網(wǎng)設(shè)備、家庭娛樂設(shè)備等。該芯片作為我國自主研發(fā)的手機(jī)觸屏控制芯片，只要芯片測試的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確率達(dá)到相應(yīng)的技術(shù)要求，可以完全代替進(jìn)口芯片并廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中。但是目前市場上針對ICN83系列集成電路芯片專門開發(fā)的數(shù)字集成電路測試適配器卻不多，而現(xiàn)有的數(shù)字集成電路測試適配器的匹配性不夠理想，也難以滿足廣大用戶的要求，導(dǎo)致芯片的測試陷入了困境。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題在于提供一 種數(shù)字集成電路測試適配器。該數(shù)字集成電路測試適配器主要針對83系列QFN40和QFN48兩種封裝方式的集成電路芯片開發(fā)的。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采取下述的技術(shù)方案：

一種數(shù)字集成電路測試適配器，適用于ICN83系列集成電路芯片的集成電路測試系統(tǒng)，包括主機(jī)板和支架，所述主機(jī)板包括QFN40和QFN48兩個封裝格式的焊盤以及與所述焊盤相對應(yīng)針腳；所述針腳和所述焊盤相連接；

所述焊盤之間通過信號線相連接，位于所述主機(jī)板的中間；所述針腳則分列在所述主機(jī)板兩端；

所述主機(jī)板具有與數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的機(jī)頭相對應(yīng)的形狀；

所述主機(jī)板為多層板，設(shè)有獨(dú)立的電源層和地層，所述地層位于所述主機(jī)板的中間位置；

在所述電源層和所述地層之間設(shè)有旁路電容，待測芯片的發(fā)送和接收管腳之間連接隔離電容；

在相鄰的信號線之間設(shè)有地線。

其中較優(yōu)地，所述主機(jī)板中，表層導(dǎo)線的寬度以及到其參考地平面的高度符合式(1)所確定的關(guān)系：

Z0=87Er+1.41In(5.98h0.8w+t)---(1)]]>

非表面層導(dǎo)線的寬度以及到其參考地平面的高度符合式(2)所確定的關(guān)系：