[實用新型]一種用于測量扁平永磁體單面磁通量的感應線圈

有效

• 申請號: 201320861368.8
• 申請日: 2013-12-24
• 公開（公告）號: CN203658560U
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 宋強;胡健;曾華;黃道平
• 申請（專利權）人: 宜賓金川電子有限責任公司;宜賓金原復合材料有限公司
• 主分類號: G01R33/07
• 分類號: G01R33/07
• 代理公司: 成都華典專利事務所(普通合伙) 51223
• 代理人: 徐豐;楊保剛

技術領域

本實用新型涉及一種感應線圈，主要是一種用于測量扁平永磁體單面磁通量的感應線圈。

背景技術

測試磁通量的感應線圈在磁性材料行業中的應用十分廣泛。目前永磁體磁通的測量通常采用亥姆霍茲線圈、單線圈和平面線圈，亥姆霍茲線圈能測試整個磁體磁通但不能測試扁平磁體單面的磁通量。單線圈是最經典的磁場測量線圈，被人們用于測試包圍空間內的磁場，通常設計用于測試整個磁體的磁通量。平面線圈是由單線圈轉化而成，專門用于測試磁瓦磁片工作面的磁通量。

隨著磁性材料不斷擴展和應用的深入，許多弱磁通量的磁體應用在了某些特殊行業中，由于目前大多弱磁通量（nWb級）的磁體都是采用磁粉和樹脂復合粘結而成，磁粉在樹脂中的分散程度直接影響磁體磁性能的均勻性，特別是扁平磁體兩面磁通量的一致性。某些特殊行業要求該類扁平磁體兩面的磁通量差異低于1.5%。

目前市面上所銷售的平面線圈工裝能測試高磁通量的磁體，針對弱磁通量的磁體該類工裝因精度不夠不能測試，更無法測試扁平磁體的單面磁通量。

發明內容

本實用新型的目的是提供一種用于測量扁平永磁體單面磁通量的感應線圈，可以測量扁平永磁體單面磁通量，并通過正反兩次測量扁平永磁體單面磁通量來檢測扁平永磁體兩面磁通量的一致性，以彌補現有技術的不足。

本實用新型的目的是這樣實現的：一種用于測量扁平永磁體單面磁通量的感應線圈，包括非導磁材料制成的繞線盤，繞線盤中軸為空腔結構，繞線盤上繞有線圈，線圈緊密纏繞在繞線盤上，在繞線盤中軸空腔結構內壁上有非導磁材料制成的測試槽，測試槽緊貼在繞線盤內壁與繞線盤軸向方向平行。

通過實施本實用新型，可以測量扁平永磁體單面磁通量，并通過正反兩次測量扁平永磁體單面磁通量來檢測扁平永磁體兩面磁通量的一致性；本實用新型結構簡單，使用方便。

以下結合附圖通過具體實施方式對本實用新型做進一步描述。

附圖說明

圖1是本實用新型的主視圖；

圖2是本實用新型的俯視圖。

圖中1是繞線盤，2是測試槽，3是線圈。

具體實施方式

實施例1

一種用于測量扁平永磁體單面磁通量的感應線圈，包括非導磁材料制成的繞線盤1，繞線盤1中軸為空腔結構，繞線盤1上繞有線圈3，線圈3緊密纏繞在繞線盤1上，在繞線盤1中軸空腔結構內壁上有非導磁材料制成的測試槽2，測試槽2緊貼在繞線盤1內壁與繞線盤1軸向方向平行。

使用時，將本實用新型線圈3的引出線與磁通計連接，將待測的扁平永磁體置于測試槽2內，由于扁平永磁體只有貼近繞線盤1內壁一面的磁力線會切割線圈3，影響電感數據，扁平永磁體另一面的磁力線在繞線盤1中軸空腔結構形成閉環，不切割線圈3，對電感數據不構成影響，讀取磁通計數據，通過與線圈3的匝數換算可知扁平永磁體貼近繞線盤1內壁一面的磁通量；完成扁平永磁體一面磁通量測試后，將扁平永磁體翻面進行再次測試，即可獲得扁平永磁體另一面的磁通量數據，進行扁平永磁體兩面磁通量數據對比。