[實用新型]二次雷達列饋測試臺

有效

• 申請號: 201320849433.5
• 申請日: 2013-12-20
• 公開（公告）號: CN203658497U
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 張虹;張曉燕
• 申請（專利權）人: 南京恩瑞特實業有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 汪旭東

技術領域

本實用新型涉及二次雷達天線的測試領域，特別是用于二次雷達列饋的測試臺。

背景技術

二次雷達天線是大垂直口徑陣列天線，陣面尺寸約8m×2m，重達500kg左右，由垂直安裝的36根列饋和輔助器件組成，每根列饋需遵循相同的幅度和相位關系，在二次雷達天線裝配前，由于每批列饋所用原材料的差異，不同批次列饋的幅度和相位分布及列饋的初始相位會存在一些差異，當差異較大的列饋裝配在一起時，會導致天線性能變差，甚至不能滿足天線的技術指標要求，通常情況下，我們采用默認每根列饋的性能指標是相同的或在容許的范圍內，并沒有專用裝置對每根列饋進行測試，只有36根列饋裝配成天線后，用天線專用測試平臺對天線整體進行性能指標的測試，而天線專用測試平臺卻無法在天線裝配前對單根列饋進行測試。

二次雷達天線的使用過程中若受到意外撞擊或颶風、冰雹、雷電的襲擊，會導致天線損壞，而天線的損壞往往是由于列饋的損壞，但現實情況中，我們經常需要將整付天線運回廠家進行測試，從而增加了拆除、運輸、安裝的風險和費用。

實用新型內容

所要解決的技術問題：針對以上問題本實用新型提供了二次雷達列饋測試臺，在天線裝配前，可以對二次雷達列饋的幅度分布、相位分布和列饋的初始相位等技術指標進行測試，剔除不合格的列饋，實現二次雷達列饋的質量控制；在二次雷達天線受損后，現場拆下列饋逐根進行檢測，識別損壞的列饋，進而更換，避免了整付天線的拆裝和運輸，實現二次雷達天線的現場維修。

技術方案：為了解決以上問題，本發明提供了二次雷達列饋測試臺，包括矢量網絡分析儀2，測試架4，導軌3，平板5，測試箱體1，測試電纜7；

所述的矢量網絡分析儀2包括信號輸入端口2-1和信號輸出端口2-2；

所述的測試架4包括兩個高度相等的測試架4；

所述的導軌3包括兩根平行的導軌，第一導軌3-1和第二導軌3-2；

所述的平板5包括至少四個平行的平板，第一平板5-1，第二平板5-2，第三平板5-3，第四平板5-4；

所述的測試箱體1是內凹型且開口向下，測試探頭1-2位于內凹部分的正中間且置于測試箱體內1，測試探頭插座1-1的上部是標準高頻插座，置于測試箱體1外，測試探頭插座1-1的下部置于測試箱體1內且與測試探頭1-2固定連接；測試箱體1底部包括與導軌3相配的兩個滑動軌道副1-3；

所述的第一導軌3-1和第二導軌3-2通過第一平板5-1，第二平板5-2，第三平板5-3，第四平板5-4相連；

所述的第一平板5-1，第二平板5-2，第三平板5-3，第四平板5-4依次與導軌3的下方固定連接，第二平板5-2和第三平板5-3上分別設有一個支架8且至少有一個支架8外側設有定位塊9，第一平板5-1和第四平板5-4分別與兩個測試架4固定連接且位于導軌3的端部；?

所述的信號輸入端口2-1與測試探頭插座1-1通過測試電纜7連接；信號輸出端口2-2與所測列饋的總端口通過測試電纜7連接。

所述的第一導軌3-1或第二導軌3-2外側面印制指示刻度6，指示刻度6的刻度值與所測列饋的振子位置對應。

測試箱體1外側面設有定位指針1-4，且定位指針1-4與指示刻度6位于同側。?

定位指針1-4與測試探頭1-2豎直方向的對稱軸平行且位于同一平面，該平面與測試箱體的內凹面平行。

測試箱體1中填充吸波材料。

有益效果：

1.?在天線裝配前，可以對二次雷達列饋的技術指標進行測試，通過測試所測列饋中每個振子的最大幅度和相位特性，就可測得列饋中各個振子分布方向的幅度和相位特性，獲得列饋的幅度和相位折線分布圖及列饋的初始相位，從而剔除不合格的列饋，實現二次雷達列饋的質量控制。

2.?在二次雷達天線受損后，現場拆下列饋逐根進行檢測，識別損壞的列饋，進而更換，避免了整付天線的拆裝和運輸，實現二次雷達天線的現場維修。

3.?測試箱體中填充吸波材料,?一方面可以減小周圍環境對測試結果的影響，另一方面減小測試信號對測試人員的輻射危害。

4.?支架能夠固定被測列饋，使列饋保持穩定的直立狀態。

5.?定位塊保證被測列饋與測試臺之間固定的位置關系。

6.?在測試時，為準確定位測試探頭的位置，在測試箱體外側面設置了與測試探頭平行且位于同一平面的定位指針，在導軌外側面設置了指示刻度，指示刻度的刻度值與所測列饋的振子位置相對應，當定位指針與指示刻度對齊，測試探頭就與列饋內的振子對齊，則所測試的就是該刻度值所對應振子的幅度和相位特性。