[實(shí)用新型]計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320839322.6
• 申請日: 2013-12-19
• 公開（公告）號: CN203802481U
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭剛;孫珉;趙文江
• 申請（專利權(quán)）人: 上海西門子醫(yī)療器械有限公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備，特別是計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備的檢測器。

背景技術(shù)

在計(jì)算機(jī)斷層掃描(C?T)設(shè)備中，檢測器本身具有較大的發(fā)熱功率，為保證C?T圖像質(zhì)量，檢測器周圍溫度應(yīng)控制在一個較低的范圍，并且對均衡性有很高的要求。由于C?T設(shè)備內(nèi)部熱源分布不均衡和快速旋轉(zhuǎn)，因此，其他部件散發(fā)的熱量都會對檢測器的環(huán)境溫度和溫度均勻性產(chǎn)生影響。

目前檢測器的散熱主要有兩種方案：

對于具有封閉的塑料外殼的檢測器，需要限制檢測器本身的功率，同時增加系統(tǒng)的冷卻功率，以在檢測器周圍保持一個較低的溫度；

在外殼上增加附加的散熱風(fēng)扇。檢測器周圍的環(huán)境溫度會直接影響到X光接收器以及轉(zhuǎn)換電路的性能，因此需要對系統(tǒng)和檢測器內(nèi)部的冷卻進(jìn)行準(zhǔn)確的控制。同時空氣中的灰塵和帶靜電的微粒，例如碳粉容易進(jìn)入檢測器，對電路可靠性產(chǎn)生影響，因此需要增加檢測器的空氣過濾和維護(hù)設(shè)計(jì)。

為了增強(qiáng)檢測器的電磁兼容性，通常需要一個金屬或者帶金屬涂層的外殼。

這些措施都增加了系統(tǒng)的復(fù)雜性，同時可能帶來額外的系統(tǒng)噪音。

實(shí)用新型內(nèi)容

有鑒于此，本實(shí)用新型提出了一種計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備，用以為檢測器提供一個穩(wěn)定而有效的散熱方式，同時降低環(huán)境溫度的變化對檢測器內(nèi)部溫度的影響。

本實(shí)用新型的一實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備，包括一檢測器，所述計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備還包括一第一石墨層或一含石墨層，所述第一石墨層或含石墨層貼于或貼近于所述檢測器的至少一部分表面。

在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備還包括一殼體，所述殼體包圍所述檢測器，所述第一石墨層貼于所述殼體的內(nèi)表面或外表面。

在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述含石墨層是塑料石墨層。

在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備還包括一轉(zhuǎn)盤和一第二石墨層，所述檢測器具有一底板，所述底板通過一連接部連接于所述轉(zhuǎn)盤，所述第二石墨層貼于所述轉(zhuǎn)盤上位于所述連接部周圍的表面。

在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述連接部和所述轉(zhuǎn)盤的接觸面是條狀表面或復(fù)數(shù)個分離的點(diǎn)。

本實(shí)用新型通過增加檢測器的傳導(dǎo)散熱和外殼溫度的均勻性，可以有效控制檢測器內(nèi)部電路的溫度及其均勻性，從而在保證系統(tǒng)的圖像性能的同時降低檢測器和系統(tǒng)的復(fù)雜性。

附圖說明

下面將通過參照附圖詳細(xì)描述本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，使本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員更清楚本實(shí)用新型的上述及其它特征和優(yōu)點(diǎn)，附圖中：

圖1為根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例的一計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備的示意圖。

圖2為圖1的計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備的檢測器的安裝示意圖。

圖3A為圖1的計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備的檢測器組件的立體示意圖。

圖3B為沿圖3A中箭頭A方向的第一視圖。

圖3C為沿圖3A中箭頭A方向的第二視圖。

在上述附圖中，所采用的附圖標(biāo)記如下：

100??計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備???110??????底板

102??檢測器???????????????112??????連接部

104??殼體?????????????????114??????轉(zhuǎn)盤

106??第一石墨層???????????116??????第二石墨層

108??模塊?????????????????118；120?接觸面

具體實(shí)施方式

為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，以下舉實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。

圖1為根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例的一計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備100的示意圖，圖2為圖1的計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備100的檢測器102的安裝示意圖。計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備100包括檢測器102、一殼體104和一轉(zhuǎn)盤114。殼體104可以是一封閉或者半封閉結(jié)構(gòu)，其包圍檢測器102，檢測器102具有一底板110，底板110通過一連接部112連接于轉(zhuǎn)盤114。如圖2所示，計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備100還可包括一模塊108，例如一發(fā)熱部件。通常，檢測器102、模塊108、殼體104和底板110構(gòu)成一檢測器組件。

由于石墨片在平面內(nèi)擁有極優(yōu)異的導(dǎo)熱性能，并且容易成形，因此適于貼合在物體表面。