[實(shí)用新型]齒圈檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320835203.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-12-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN203643165U | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳為民;劉遼東;范云 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 合肥邦立電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01M13/02 | 分類號(hào): | G01M13/02 |
| 代理公司: | 安徽合肥華信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 34112 | 代理人: | 余成俊 |
| 地址: | 231202 安徽省*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及檢測(cè)裝置領(lǐng)域,具體為一種齒圈檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)
齒圈是常用的機(jī)械零部件,起到嚙合其他齒圈以傳動(dòng)運(yùn)動(dòng)狀態(tài)的作用。齒圈在制造、使用時(shí)需要對(duì)其性能進(jìn)行檢測(cè),現(xiàn)有技術(shù)齒圈檢測(cè)裝置存在操作復(fù)雜的問(wèn)題。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種齒圈檢測(cè)裝置,以解決現(xiàn)有技術(shù)齒圈檢測(cè)裝置操作復(fù)雜的問(wèn)題。
為了達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案為:
齒圈檢測(cè)裝置,包括有支撐平臺(tái),其特征在于:支撐平臺(tái)上豎向設(shè)置有立座,立座頂部水平安裝有傳感器安裝臺(tái),立座后部固定有電機(jī),所述電機(jī)輸出軸穿過(guò)立座伸向立座前方,且電機(jī)的輸出軸軸端軸向安裝有齒圈壓緊圓蓋,所述傳感器安裝臺(tái)中豎向設(shè)置有供輪速傳感器安裝的傳感器安裝通孔。
所述的一種齒圈檢測(cè)裝置,其特征在于:所述傳感器安裝臺(tái)中豎向設(shè)置有兩個(gè)直徑大小不同的傳感器安裝通孔,其中直徑較大的傳感器安裝通孔設(shè)置在齒圈壓緊圓蓋頂點(diǎn)上方位置的傳感器安裝臺(tái)中,直徑較小的傳感器安裝通孔設(shè)置在齒圈壓緊圓蓋前上方位置的傳感器安裝臺(tái)中。
本實(shí)用新型中,齒圈套在齒圈壓緊圓蓋上,通過(guò)電機(jī)帶動(dòng)齒圈轉(zhuǎn)動(dòng),并通過(guò)測(cè)試同一只輪速傳感器的性能參數(shù)判斷齒圈的優(yōu)劣,在兼具較高的測(cè)量準(zhǔn)確度的同時(shí),還具有操作簡(jiǎn)單、使用方便的優(yōu)點(diǎn)。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示。齒圈檢測(cè)裝置,包括有支撐平臺(tái)1,支撐平臺(tái)1上豎向設(shè)置有立座2,立座2頂部水平安裝有傳感器安裝臺(tái)3,立座2后部固定有電機(jī)4,電機(jī)4輸出軸穿過(guò)立座2伸向立座2前方,且電機(jī)4的輸出軸軸端軸向安裝有供齒圈7套裝的齒圈壓緊圓蓋5,傳感器安裝臺(tái)3中豎向設(shè)置有供輪速傳感器安裝的傳感器安裝通孔6。
傳感器安裝臺(tái)3中豎向設(shè)置有兩個(gè)直徑大小不同的傳感器安裝通孔,其中直徑較大的傳感器安裝通孔設(shè)置在齒圈壓緊圓蓋5頂點(diǎn)上方位置的傳感器安裝臺(tái)中,直徑較小的傳感器安裝通孔設(shè)置在齒圈壓緊圓蓋5前上方位置的傳感器安裝臺(tái)中。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于合肥邦立電子股份有限公司,未經(jīng)合肥邦立電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201320835203.3/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





