[實用新型]一種探測器靈敏度性能的無損測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320771584.3
• 申請日: 2013-11-29
• 公開（公告）號: CN203595766U
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發(fā)明（設計）人: 饒華斌;莊堅;曾延華
• 申請（專利權(quán)）人: 廈門三優(yōu)光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 廈門市新華專利商標代理有限公司 35203
• 代理人: 朱凌

技術(shù)領域

本實用新型涉及探測器的產(chǎn)品檢測領域，更具體的說涉及一種探測器靈敏度性能的無損測試裝置。

背景技術(shù)

隨著光電子技術(shù)和信息技術(shù)的發(fā)展，半導體探測器在光纖通信、信息存儲等領域得到了廣泛的應用。作為SFP+光模塊的接收器，探測器特性的劣勢直接影響著SFP+光模塊的性能。因此，在生產(chǎn)和使用過程中，需要精確地測試其各種性能和參數(shù)，諸如靈敏度性能。

在目前科研實驗室里，是采用將探測器焊接到SFP+光模塊的IC板上，再將整個SFP+光模塊與光發(fā)射器、誤碼儀、信號發(fā)生器、衰減器、供電源等設備相連以組成靈敏度測試系統(tǒng)的方法，來測試探測器的靈敏度性能。但是，這種測試方法效率極其低下，并且會損壞到探測器成品之FPC板。因此，在市場對探測器大批量需求的形勢下，就需要考慮能直接對探測器進行靈敏度性能測試并且不損傷探測器成品的方法。這樣，為實現(xiàn)對探測器靈敏度性能的批量無損測試而設計開發(fā)全新的測試工裝，就成為亟待解決的問題。

有鑒于此，本發(fā)明人針對此問題深入研究，遂有本案產(chǎn)生。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的在于提供一種探測器靈敏度性能的無損測試裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)在對探測器成品進行靈敏度測試時，缺乏優(yōu)質(zhì)輔助工裝而導致?lián)p壞探測器成品的問題。

為了達成上述目的，本實用新型的解決方案是：

一種探測器靈敏度性能的無損測試裝置，其中，包括底座、上蓋、抵頂機構(gòu)以及測試電路，該測試電路具有IC板和PCB板；該上蓋上形成有適合于抵頂機構(gòu)的斜槽、對位放置探測器成品的定位槽以及可起到減少電磁信號反射作用的若干個鏤空孔；該抵頂機構(gòu)用于使放置入的探測器成品之FPC板精確抵頂于IC板焊接端子之上表面；該PCB板位于底座與抵頂機構(gòu)之間并由底座和抵頂機構(gòu)固定住，PCB板上焊接固定有IC板插口座、供電插座及引出線、以及數(shù)據(jù)傳輸接線柱，該IC板一端插置于IC板插口座之熱插拔接口上、在另一懸空端上則形成有IC板焊接端子。

進一步，該抵頂機構(gòu)具有彈簧、轉(zhuǎn)軸、抵頂件以及承載座，該抵頂件可繞設置在其中部的轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動，該抵頂件一端形成有與彈簧相連的抵頂手柄，另一端形成有抵頂尖端，該抵頂件在彈簧常態(tài)下可使抵頂尖端將FPC金手指緊緊抵觸在IC板焊接端子上；該承載座背面形成有可使抵頂機構(gòu)不與PCB板之差分微帶線接觸的懸空槽。

進一步，該供電插座及引出線通過與供電源之正負極相連接。

進一步，該數(shù)據(jù)傳輸接線柱通過與誤碼儀數(shù)據(jù)傳輸端相連接。

進一步，該探測器靈敏度性能的無損測試裝置的所有部件均采用絕緣防靜電材料制成。

進一步，該底座與上蓋、PCB板和承載座通過若干個螺釘螺接相連。

采用上述結(jié)構(gòu)后，本實用新型涉及的一種探測器靈敏度性能的無損測試裝置，利用手動按壓抵頂機構(gòu)的抵頂手柄，使抵頂尖端將FPC金手指緊緊抵觸在IC板焊接端子上，以使探測器成品與測試電路實現(xiàn)電路連通，再利用與探測器成品光口相接的光纖跳線與衰減器、光發(fā)射器連接，測試電路之供電插座及引出線與供電源相連，測試電路之數(shù)據(jù)傳輸接線柱與誤碼儀、信號發(fā)生器相連，最后組成靈敏度測試系統(tǒng)，從而實現(xiàn)對探測器靈敏度性能的測試。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型使探測器靈敏度性能的測試無需采用將FPC金手指焊接到IC板焊接端子上的傳統(tǒng)焊接測試法即可實現(xiàn)，這樣不僅極大的提高了測試效率，而且不會像傳統(tǒng)焊接測試法會損傷到FPC金手指，測試完畢后探測器成品在外觀上不會受到任何損傷，且能做到很好的ESD防護，最終達到無損測試的目的。

附圖說明

圖1為本實用新型涉及一種探測器靈敏度性能的無損測試裝置在放置上探測器和光纖跳線及插頭進行測試時的示意圖；

圖2為本實用新型涉及一種探測器靈敏度性能的無損測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本實用新型涉及一種探測器靈敏度性能的無損測試裝置在去除抵頂件和上蓋后的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。

圖中：

底座????????????1?????????上蓋?????????????2

斜槽????????????21????????定位槽???????????22

鏤空孔??????????23????????抵頂機構(gòu)?????????3?

彈簧????????????31????????轉(zhuǎn)軸?????????????32?

抵頂件??????????33????????抵頂尖端?????????331