[實用新型]標(biāo)識檢測模塊和系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320744248.X
• 申請日: 2013-11-21
• 公開（公告）號: CN203981781U
• 公開（公告）日: 2014-12-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 伯特·馬斯頓
• 申請（專利權(quán)）人: 快捷半導(dǎo)體（蘇州）有限公司;快捷半導(dǎo)體公司
• 主分類號: G01R27/14
• 分類號: G01R27/14
• 代理公司: 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270
• 代理人: 武晨燕;張穎玲

技術(shù)領(lǐng)域

本專利申請整體涉及附件檢測，并且更具體地講涉及組合標(biāo)識（ID）檢測。?

背景技術(shù)

通用串行總線（USB）開關(guān)能夠允許多個附件利用電子設(shè)備（例如，移動通信設(shè)備、便攜式媒體播放器等）上的單個USB端口。在某些實例中，可以通過檢測該附件的電阻來標(biāo)識連接到USB開關(guān)的附件類型。傳統(tǒng)USB標(biāo)識（ID）檢測能夠以1nF的負(fù)載電容在大約200ms內(nèi)確定ID電阻。然而，能在給定時間段（例如，200ms等）內(nèi)查出電阻值的數(shù)量會受到限制。?

實用新型內(nèi)容

除了別的之外，本專利申請討論配置成在小于25ms內(nèi)確定例如USB附件檢測線(ID_CON)上的ID電阻的ID檢測系統(tǒng)和方法。另外，均可在大約25ms或更少時間內(nèi)從有效ID電阻確定值之間的浮接時間（例如，15ms等）支持的單個附件或多個附件確定兩個以上ID電阻（例如，三個或更多的獨有的ID電阻）。本文所公開的ID檢測系統(tǒng)和方法能在不犧牲準(zhǔn)確性的情況下比傳統(tǒng)ID檢測確定更多數(shù)量的ID電阻值，并且比傳統(tǒng)ID檢測更快。?

在一個示例中，提供了一種標(biāo)識（ID）檢測模塊，包括：控制器，其被配置成：在第一附連時段內(nèi)的第一檢測時段中標(biāo)識第一ID碼；和在第一附連時段內(nèi)的第二檢測時段中標(biāo)識第二ID碼。?

在另一示例中，提供了一種標(biāo)識（ID）檢測系統(tǒng)，包括：源，其被配置成提供輸出電流到附件檢測輸入端，其中所述輸出電流是多個標(biāo)識（ID）電流值中的一個；和檢測模塊，其被配置成接收響應(yīng)于所述輸出電流的電壓，并且將所接收的電壓與第一閾值和第二閾值比較，其中所述檢測模塊包括控制器，所?述控制器被配置成：存儲所述多個ID電流值；利用來自所述檢測模塊的信息控制所述源的輸出電流；在第一附連時段內(nèi)的第一檢測時段期間，當(dāng)所接收的電壓在所述第一閾值和第二閾值之間時標(biāo)識第一ID碼；和在所述第一附連時段內(nèi)第二檢測時段期間，當(dāng)所接收的電壓在所述第一閾值和第二閾值之間時標(biāo)識第二ID碼。本部分旨在提供對本專利申請主題的概述。不旨在提供對本實用新型的排他性或窮舉性的解釋。包括具體實施方式從而提供有關(guān)本專利申請的另外的信息。?

附圖說明

在未必按比例繪制的附圖中，類似的數(shù)字可以在不同視圖中描述類似的組件。具有不同字母下標(biāo)的類似的數(shù)字可以表示類似元件的不同實例。一般來說，附圖以舉例的方式而非限制的方式示出了本專利申請中討論的各種實施例。?

圖1總體上示出了USB附件檢測線(ID_CON)上的示例檢測時序圖。?

圖2總體上示出了用于本文所公開的系統(tǒng)和方法的示例ID檢測狀態(tài)圖。?

圖3總體上示出了配置成確定附件檢測線(ID_CON)上的ID電阻的示例系統(tǒng)。?

具體實施方式

可以使用比較器來檢測附件設(shè)備上的ID電阻器的值，例如在題目為“METHOD?AND?SYSTEM?THAT?DETERMINES?THE?VALUE?OF?A?RESISTOR?IN?LINEAR?AND?NON-LINEAR?RESISTOR?SETS,”（確定線性和非線性電阻器組中的電阻器值的方法和系統(tǒng)）、轉(zhuǎn)讓給Fairchild?Semiconductor?Corporation的Jasa等人的美國專利8,179,151中所公開的，并且所述專利全文并入本文中。可將已知的電流施加到ID電阻器，并且所得的電壓可與窗口比較器的第一閾值和第二閾值比較。在一個實例中，窗口比較器可以包括將所得的電壓與較低閾值（WINBOT）比較的第一比較器和將所得電壓與較高閾值（例如，WINTOP）比較的第二比較器。在一個實例中，較低閾值和較高閾值可分別包括圍繞2V?的理想電壓的1.85V和2.15V的值。在其他實例中，可使用其他電壓。?

傳統(tǒng)USB檢測方案支持有限數(shù)量的電阻值。例如，傳統(tǒng)微型USB開關(guān)（MUS）ID檢測方案可支持從2k歐姆到1M歐姆范圍內(nèi)的32個獨有的ID電阻值。然而，標(biāo)識32個獨有的ID電阻值中的每一個會占去至多200ms。?

除了別的之外，本專利申請討論了配置成在小于25ms內(nèi)確定例如在USB附件檢測線(ID_CON)上的ID電阻值的ID檢測系統(tǒng)和方法。另外，單個附件或多個附件的兩個以上ID電阻（例如，三個或更多個獨有的ID電阻）中的每個，仍可采用1nF的最大負(fù)載電容在（有效ID電阻確定之間的諸如15ms的浮接時間所支持的）大約25ms或更少的時間內(nèi)得以確定。本文所公開的ID檢測系統(tǒng)和方法能夠在不犧牲準(zhǔn)確性的情況下比傳統(tǒng)ID檢測確定更多數(shù)量的ID電阻值，并且比傳統(tǒng)ID檢測更快。?