[實用新型]一種可程控失調電流參數的運算放大器

有效

• 申請號: 201320732861.X
• 申請日: 2013-11-20
• 公開（公告）號: CN203800895U
• 公開（公告）日: 2014-08-27
• 發明（設計）人: 袁琰
• 申請（專利權）人: 北京華峰測控技術有限公司
• 主分類號: H03F3/45
• 分類號: H03F3/45;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型提供一種可程控失調電流參數的運算放大器，該運算放大器可以通過外部數字邏輯控制，使之具有標準失調電流值，可用于運算放大器測試系統中輔助運算放大器環電路的失調電流測量部分的功能和精度診斷。?

背景技術

運算放大器是模擬電路中非常重要的一類器件，廣泛應用于各種電子設備。模擬測試系統中為實現運算放大器的測試，依據國家標準GB3442-86，GB6798-86，采用輔助運算放大器環電路對被測運算放大器的失調電流I_IO參數進行測試。?

國家標準中規定失調電流I_IO的定義為：運算放大器在失調電壓補償后，兩輸入端外加輸入補償電流，使運算放大器輸出電壓為零(或規定值)，此時外加補償電流的數值，即為失調電流。測試方法為先閉合輔助運算放大器環電路中的KK1、KK2，測得輔助運算放大器A的輸出電壓VL0，再斷開開關KK1、KK2，測得輔助運算放大器A的輸出電壓VL1，則有：?

IIO=RIRI+RF·VL1-VL0R]]>

但實際應用時，輔助運算放大器環電路需要和被測運算放大器共同構成閉環線路才能正常工作，過去只能依靠保留一些運算放大器“標準樣片”的方法進行數據比對，因此難以獨立對電路的測量精度進行診斷和評估。此方法難于覆蓋較大的參數范圍，同時“標準樣片”的失調電流I_IO參數值也往往不是功能和精度診斷所需的最佳選擇。?

發明內容

本實用新型提供了一種可程控失調電流參數的運算放大器，在同一運算放大器上實現了多個失調電流值的程控選擇，可以替代“標準樣片”用于模擬測試系統中輔助運算放大器環電路的功能和精度診斷。?

本實用新型通過以下技術方案實現：本實用新型包括核心運算放大器單元、失調電流分擋單元、邏輯控制單元。所述核心運算放大器單元采用具有調節端的高輸入阻抗單路運算放大器U1，核心運算放大器的調節端之間接入電位器W1。核心運算放大器單元正輸入端和負?輸入端分別與所述失調電流分擋單元的兩端相連接。所述失調電流分擋單元具有一個以上的擋位，各擋位之間為并聯關系。每擋位由一個精密電阻(RJ1、RJ2、RJ3)和一個繼電器(K1、K2、K3)串聯構成，精密電阻一端與本擋位的繼電器相連，另一端與其它擋位的精密電阻相連；繼電器一端與本擋位的精密電阻相連，另一端與其它擋位的繼電器相連。失調電流分擋單元的繼電器控制信號由所述邏輯控制單元中的數字邏輯器件產生，實現運算放大器多組失調電流值的程控選擇。?

附圖說明

圖1是國家標準GB3442-86中規定的失調電流I_IO測試原理圖，畫出了輔助運算放大器環電路，標出了與失調電流測試相關的繼電器KK1和KK2以及電阻R在電路中的位置；?

圖2是本實用新型的原理框圖，說明了可程控失調電流參數的運算放大器各部分構成及連接關系。?

具體實施方式

核心運算放大器U1選用具有調節端、失調電流小且漂移小的高輸入阻抗運算放大器，如制作一個具有3個I_IO擋位的運算放大器，需要在核心運算放大器的正負輸入端之間放置3個精密電阻，如RJ1＝20KΩ、RJ2＝200KΩ、RJ3＝2MΩ，并且分別用繼電器K1-K3進行切換。核心運算放大器的調節端之間接入電位器W1，借助高精度數字多用表或者運算放大器測試系統，調節該電位器，將核心運算放大器的失調電壓調節為非零的特定值，如200uV。當吸合繼電器K1-K3之一，用輔助運算放大器環電路測量I_IO值時，偏置電流Ib+和Ib-部分電流流過電阻RJ1-RJ3之一，但不流入核心運算放大器。產生的I_IO值為：?