[實用新型]一種基于雙芯光纖干涉條紋的生成和采集測量裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320702271.2
• 申請日: 2013-11-08
• 公開（公告）號: CN203732041U
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張偉
• 申請（專利權(quán)）人: 湖北汽車工業(yè)學(xué)院
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 十堰博迪專利事務(wù)所 42110
• 代理人: 宋志雄

1.一種基于雙芯光纖干涉條紋的生成和采集測量裝置，包括干涉條紋的生成以及條紋的投射與采集測量，其特征在于：其中干涉條紋的生成在信號部整體框架（19）中，LD光源（1）由光纖耦合器（2）分成兩路光纖傳輸，其中光纖一（3）部分纏繞在壓電陶瓷PZT（5）上，光纖一（3）與另一路光纖二（6）集合到雙芯光纖（7），雙芯光纖（7）干涉條紋經(jīng)由光纖發(fā)射端（9）發(fā)射，再經(jīng)過反光鏡（10）投射到被測物（18）表面；采集測量部整體框架（16）中反光鏡（10）的反射光線通過透鏡（11）、孔徑光闌（12）、準(zhǔn)直透鏡（13）至CCD攝像機(jī)（14）并傳輸?shù)接嬎銠C(jī)處理系統(tǒng)（15）；測頭支撐結(jié)構(gòu)（17）在反光鏡下。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于雙芯光纖干涉條紋的生成和采集測量裝置，其特征在于：光纖發(fā)射端（9）下設(shè)有螺紋調(diào)整機(jī)構(gòu)（8）。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于雙芯光纖干涉條紋的生成和采集測量裝置，其特征在于：測量部整體框架（16）體積在寬30mmX高30mmX長180mm以內(nèi)。