[實(shí)用新型]一種千分尺弓架彎曲變形校正工裝

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320696247.2
• 申請(qǐng)日: 2013-11-06
• 公開（公告）號(hào): CN203605845U
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王立社;張強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 西安電子工程研究所
• 主分類號(hào): G01B3/18
• 分類號(hào): G01B3/18
• 代理公司: 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 61204
• 代理人: 王鮮凱

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于機(jī)械維修裝置，涉及一種千分尺弓架彎曲變形校正工裝。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)于千分尺弓架彎曲變形校正，采用銅墊塊將千分尺弓架墊起，呈懸空狀態(tài)，然后在對(duì)面，用木條或銅條墊上采用榔頭敲擊，以達(dá)到千分尺弓架彎曲變形校正的目的。

現(xiàn)有技術(shù)的維修非常不簡(jiǎn)便，而且校正精度有限。

發(fā)明內(nèi)容

要解決的技術(shù)問題

為了避免現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，本發(fā)明提出一種千分尺弓架彎曲變形校正工裝。

技術(shù)方案

一種千分尺弓架彎曲變形校正工裝，其特征在于包括框架、兩個(gè)支撐螺柱、兩個(gè)非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭、兩個(gè)加力絞手把、兩個(gè)顯示數(shù)據(jù)微分筒、兩個(gè)固定套筒、3個(gè)墊塊和檢具；加力絞手把與顯示數(shù)據(jù)微分筒垂直固定，通過固定套筒與非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭連接，非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭穿過框架的一側(cè)上設(shè)有的通孔；另一個(gè)加力絞手把與另一個(gè)顯示數(shù)據(jù)微分筒垂直固定，通過另一個(gè)固定套筒與另一個(gè)非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭連接，非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭穿過框架的另一側(cè)上設(shè)有的通孔；所述的兩個(gè)非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭穿過各自的通孔后形成90度；在框架的一側(cè)設(shè)有兩個(gè)支撐螺柱，兩個(gè)支撐螺柱的軸向與其中一個(gè)非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭形成垂直狀態(tài)；3個(gè)墊塊置入在框架空間內(nèi)，分別用于非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭、框架與千分尺弓架之間。

所述兩個(gè)非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭的規(guī)格為φ6.5和φ8。

有益效果

本發(fā)明提出的一種千分尺弓架彎曲變形校正工裝，采用兩個(gè)分布在垂直方向上的非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭作為加力裝置，使校正過程有了量的控制。將原有的無顯示校正提高至有量控制的校正。而且有標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)樣板進(jìn)行檢測(cè)，比原檢測(cè)方法快速準(zhǔn)確。

附圖說明

圖1是校正工裝結(jié)構(gòu)用于校正弓架窄面時(shí)的示意圖；

圖2是校正工裝結(jié)構(gòu)用于校正弓架寬面時(shí)的示意圖；

圖3是檢具用于校正弓架寬面時(shí)的示意圖。

其中，1-千分尺弓架、2-框架、3-微分頭套筒、4-墊塊、5-支撐螺柱、6-測(cè)頭、7-通孔、8-微分頭、9-千分尺固定測(cè)砧、10-微分筒、11-絞手把、12-專用檢具、13-間隙、14-固定套筒。

具體實(shí)施方式

現(xiàn)結(jié)合實(shí)施例、附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步描述：

本實(shí)施例包括框架2，兩個(gè)支撐螺柱5，兩個(gè)非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭8，兩個(gè)穿過微分頭8的通孔7，加力絞手把11，顯示數(shù)據(jù)微分筒10和固定套筒14，3個(gè)墊塊4，用于檢測(cè)弓架彎曲變形方向的專用檢具12；采用的兩個(gè)非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭的規(guī)格為φ6.5和φ8。

連接關(guān)系為：加力絞手把與顯示數(shù)據(jù)微分筒垂直固定，通過固定套筒與非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭連接，非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭穿過框架的一側(cè)上設(shè)有的通孔；另一個(gè)加力絞手把與另一個(gè)顯示數(shù)據(jù)微分筒垂直固定，通過另一個(gè)固定套筒與另一個(gè)非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭連接，非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭穿過框架的另一側(cè)上設(shè)有的通孔；所述的兩個(gè)非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭穿過各自的通孔后形成90度；在框架的一側(cè)設(shè)有兩個(gè)支撐螺柱，兩個(gè)支撐螺柱的軸向與其中一個(gè)非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭形成垂直狀態(tài)。3個(gè)墊塊置入在框架空間內(nèi)，分別用于非旋轉(zhuǎn)芯軸式微分頭、框架與千分尺弓架之間。

校正時(shí)：將框架2騎跨在千分尺弓架上，由2個(gè)螺旋柱5作為支點(diǎn)，在微分頭8的旋進(jìn)作用下，對(duì)弓架兩個(gè)方向上的窄面可進(jìn)行校正。”見圖1。

弓架寬面兩個(gè)方向上的校正是依靠垂直于窄面上的另一個(gè)固定在框架2上的微分頭進(jìn)行校正。因?yàn)槲⒎诸^測(cè)頭為φ6.5或φ8兩個(gè)規(guī)格。所以需要3個(gè)墊塊置入在框架空間，其中1個(gè)處于微分頭測(cè)頭與弓架之間，用來增加弓架受力面積，另外2個(gè)處在弓架的另一側(cè)。墊塊一個(gè)方向與弓架寬度一致，另一方向窄一點(diǎn)利于弓架校正變形。

專用檢具12是套在千分尺固定測(cè)端9上，配合間隙130.001毫米，而垂直于孔的檢測(cè)段，垂直度誤差0.002毫米，檢具可繞轉(zhuǎn)360°。用以觀察測(cè)頭6與檢具之間的縫隙，確定變形方向。

首先讓專用檢具12套在千分尺固定測(cè)砧9上，旋轉(zhuǎn)套筒3使測(cè)頭6與專用檢具貼合，讓檢具沿測(cè)頭6繞轉(zhuǎn)，用光隙法檢測(cè)檢具與測(cè)頭6縫隙的大小，以此確定弓架變形方向。如圖3所示。

根據(jù)檢具檢測(cè)得出的變形方向，將工裝框架騎跨在千分尺弓架上。用于窄面校正時(shí)，旋緊下端的兩個(gè)支撐螺柱5，然后以支撐螺柱5為支點(diǎn)，旋轉(zhuǎn)絞手把11，微分頭向弓架方向下壓，下壓同時(shí)要觀察微分筒10與固定套筒14上的刻度掌握下壓量，將絞手把反方向旋轉(zhuǎn)，使微分頭后退，然后再順時(shí)針旋扭套筒10，使微分頭與弓架接觸，觀察套筒10與固定套筒14上的刻度來確定校正變形量。如圖1所示。

寬度方向上的校正須將3個(gè)墊塊4放在微分頭與弓架之間，如圖2所示。操作方式同上所述。