[實(shí)用新型]一種基于C8051F320單片機(jī)的簡易晶體管特性測量儀

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320682600.1
• 申請(qǐng)日: 2013-10-31
• 公開（公告）號(hào): CN203732678U
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周佳敏;李宏;尹思源;袁嬌;吳衡;徐爽
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 寧波大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26
• 代理公司: 寧波奧圣專利代理事務(wù)所(普通合伙) 33226
• 代理人: 邱積權(quán)

技術(shù)領(lǐng)域

?本實(shí)用新型涉及一種晶體管特性測量儀，尤其是涉及一種基于C8051F320單片機(jī)的簡易晶體管特性測量儀。

背景技術(shù)

目前，國內(nèi)高校電子信息類專業(yè)涉及很多實(shí)驗(yàn)，包括電子實(shí)驗(yàn)﹑系統(tǒng)集成實(shí)驗(yàn)﹑計(jì)算機(jī)控制實(shí)驗(yàn)等。這些實(shí)驗(yàn)通常需要采用一些傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)儀器儀表設(shè)備，如晶體管特性測試儀等專用實(shí)驗(yàn)設(shè)備。但是由于傳統(tǒng)的晶體管特性測儀器不但價(jià)格昂貴，且體積較大﹑占空間多、攜帶不便。所以傳統(tǒng)的晶體管特性測試儀器只在實(shí)驗(yàn)室里設(shè)有。這限制了學(xué)生必須在實(shí)驗(yàn)室里才能進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。然而，實(shí)驗(yàn)室對(duì)學(xué)生的開放時(shí)間是有限的，這使得學(xué)生在課外時(shí)間很難進(jìn)行科學(xué)實(shí)驗(yàn)，限制了學(xué)生實(shí)踐能力和創(chuàng)新能力的提高。此外傳統(tǒng)的晶體管特性測試儀器還存在各種儀器間相互連接十分麻煩的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種便于攜帶，操作方便的基于單片機(jī)的簡易的晶體管特性測量儀。

本實(shí)用新型解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為：一種基于C8051F320單片機(jī)的簡易晶體管特性測量儀，包括基極輸入電流源、集電極上拉電壓源、集電極電流測量模塊、集電極-發(fā)射極電壓測量模塊、晶體管測試臺(tái)與LCD液晶顯示電路，所述的基極輸入電流源包括型號(hào)為C8051F320的單片機(jī)、第一電壓調(diào)理模塊與電壓轉(zhuǎn)換電流模塊，所述的集電極上拉電壓源包括所述的單片機(jī)與第二電壓調(diào)理模塊，所述的集電極電流測量模塊包括第三電壓調(diào)理模塊與所述的單片機(jī)，所述的集電極-發(fā)射極電壓測量模塊包括第四電壓調(diào)理模塊與所述的單片機(jī)；

所述的單片機(jī)分別與第一電壓調(diào)理模塊、第二電壓調(diào)理模塊連接，所述的第一電壓調(diào)理模塊通過電壓轉(zhuǎn)換電流模塊與晶體管測試臺(tái)連接，所述的第二電壓調(diào)理模塊連接到晶體管測試臺(tái)，所述的晶體管測試臺(tái)通過第三電壓調(diào)理模塊與單片機(jī)連接，晶體管測試臺(tái)通過第四電壓調(diào)理模塊與所述的單片機(jī)連接，所述的單片機(jī)連接與LCD液晶顯示電路連接。

所述的第一電壓調(diào)理模塊包括D/A轉(zhuǎn)換電路與第一電壓跟隨電路，所述的第二電壓調(diào)理模塊包括所述的D/A轉(zhuǎn)換電路、第二電壓跟隨電路與信號(hào)放大電路，所述的第三電壓調(diào)理模塊包括加減法運(yùn)算電路、第一信號(hào)衰減電路、第一信號(hào)反向電路與A/D轉(zhuǎn)換電路，所述的第四電壓調(diào)理模塊包括第二信號(hào)衰減電路、第二信號(hào)反向電路與所述的A/D轉(zhuǎn)換電路；

所述的單片機(jī)與D/A轉(zhuǎn)換電路連接，所述的D/A轉(zhuǎn)換電路分別與第一電壓跟隨電路的輸入端、第二電壓跟隨電路的輸入端連接，所述的第一電壓跟隨電路的輸出端與電壓轉(zhuǎn)換電流模塊的輸入端連接，所述的第二電壓跟隨電路的輸出端與信號(hào)放大電路的輸入端連接，信號(hào)放大電路的輸出端與晶體管測試臺(tái)連接，所述的加減法運(yùn)算電路的輸入端與晶體管測試臺(tái)連接，加減法運(yùn)算電路的輸出端依次通過第一信號(hào)衰減電路、第一信號(hào)反向電路連接到所述的單片機(jī)的第一采樣輸入口，所述的第二信號(hào)衰減電路的輸入端與晶體管測試臺(tái)連接，第二信號(hào)衰減電路的輸出端通過第二信號(hào)反向電路連接到所述的單片機(jī)的第二采樣輸入口。

所述的D/A轉(zhuǎn)換電路包括型號(hào)為TLC7528的數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器及外圍電路，所述的數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器與單片機(jī)連接，所述的數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器的第六管腳與單片機(jī)的第二十六管腳相連，數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器的十第六管腳與單片機(jī)的第二十五管腳相連；

所述的A/D轉(zhuǎn)換電路包括單片機(jī)及外圍電路，所述的單片機(jī)的第九管腳與十針JTAG接口的第七管腳連接，單片機(jī)的第十管腳與十針JTAG接口的第四管腳連接，所述的單片機(jī)的第九管腳與第七電阻的一端相連，第七電阻的另一端通過按鍵開關(guān)接地，第七電阻的另一端通過第五電阻連接到單片機(jī)的VDD接口，單片機(jī)的第五管腳與USB接口的第二管腳連接，單片機(jī)的第四管腳與USB接口的第三管腳連接。由數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器及外圍電路完成信號(hào)的D/A轉(zhuǎn)換，由單片機(jī)及外圍電路完成信號(hào)的A/D轉(zhuǎn)換。