[實用新型]一種CCM測試工裝

有效

• 申請號: 201320682261.7
• 申請日: 2013-10-30
• 公開（公告）號: CN203643127U
• 公開（公告）日: 2014-06-11
• 發明（設計）人: 計葉青;陳余天;許銀鋒;范秋林;朱亞棟;邵登科;丁余輝
• 申請（專利權）人: 寧波舜宇光電信息有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京高文律師事務所 11359
• 代理人: 徐江華

技術領域

本實用新型涉及一種測試工裝，特別是一種用于CCM模組的測試工裝。

背景技術

目前用于CCM模組測試工裝如圖1所示，調試所使用的增距鏡5直徑為6cm，增距鏡5的上方是解像力測試板，調試用的模組10大小為0.85cm，調試距離37cm，要求模組10在增距鏡5下圖像充滿，實際生產過程中，推動工裝來實現圖像充滿后，模組不一定在增距鏡5的正中，導致部分模組調試后MTF值出現30%的偏差且工裝比較重，員工工作強度較高。

實用新型內容

基于上述問題，本實用新型提供了一種CCM測試工裝，用于解決模組測試產生偏差的問題，具體技術方案如下：

一種CCM測試工裝，包括上導軌和下導軌組成的雙導軌、增距鏡、光源、用于固定CCM模組的模組擺放裝置、底部調節裝置，所述底部調節裝置上方為模組擺放裝置，所述模組擺放裝置的上方為能夠在下導軌固定滑動的光源、以及能夠在上導軌固定滑動的增距鏡。

所述上導軌的兩邊設有磁鐵，用于防止在解像力測試過程中的增距鏡未移動到位。

所述上導軌的尾部設有三角突架，所述三角突架與增距鏡齊平，并且突架的一端對準測試標尺。

所述上導軌設有手拉裝置，在測試完成橫推時能夠帶動下導軌的光源一起移開測試位置。

所述模組擺放裝置固定在增距鏡的解像力測試位置的正中心，并設置有防呆槽。

所述底部調節裝置包括上層調節裝置和下層調節裝置，所述上層調節裝置用于測試產品的左右調節，所述下層調節裝置用于測試產品的上下調節。

所述增距鏡與產品的測試高度為2.5cm。

所述增距鏡靠近三角突架的一端設置有調試對心窗口，用于調試對齊中心裝置。

本實用新型提供的CCM測試工裝，通過固定測試工裝，固定測試位置，使模組之間對應性提高，誤判率下降，作業方式采用導軌移動增距鏡和光源的方式，減少了作業強度。

附圖說明

圖1是現有的CCM模組測試工裝的結構示意圖；

圖2是本實用新型提供的CCM模組測試工裝的結構示意圖1；

圖3是本實用新型提供的CCM模組測試工裝的結構示意圖2；

圖4是本實用新型提供的CCM模組測試工裝上料狀態的示意圖；

圖5是本實用新型提供的CCM模組測試工裝解像力測試的示意圖；

圖6是本實用新型提供的CCM模組測試工裝污黑塊測試的示意圖；

圖7是本實用新型提供的CCM模組測試工裝下料狀態的示意圖。

具體實施方式

本實用新型提供的CCM模組測試工裝，固定在兩塊可移動的平板上，并可以將固定位置設計成豎放或橫放，目的在于通用調試不同的CCM模組，平板采用手擰螺絲固定。

如圖2和圖3所示，所述CCM測試工裝，包括上導軌和下導軌組成的雙導軌2、增距鏡5、光源6、用于固定CCM模組的模組擺放裝置、底部調節裝置3，所述底部調節裝置3上方為模組擺放裝置，所述模組擺放裝置的上方為能夠在下導軌固定滑動的光源6、以及能夠在上導軌固定滑動的增距鏡5。

上方測試用的增距鏡5和光源6采用雙導軌的形式，所述上導軌的增距鏡5用于測試解像力防呆，下導軌的光源6用于測試污黑點。上導軌兩頭設計有磁鐵，用于防呆解像力測試過程增距鏡未移動到位。上導軌設計時，與產品測試高度保持在2.5cm，此距離為最佳測試距離。

上導軌尾部設計有三角突架1，三角突架1與測試增距鏡5齊平，突架1的一端對準測試標尺，用于對位測試距離。

所述CCM測試工裝中，所述模組擺放位置設計成獨立結構，單獨設計產品的擺放位置，位置設計有防呆槽8，可通過調試對心窗口7進行調試，測試過程產品只能放置在此裝置內，擺放位置與測試工裝分開，且擺放位置固定在解像力測試位置正中心。更換產品采用移動測試工裝來對位產品擺放位置。此設計是確保測試用的產品全部在同一位置。

所述底部調節裝置3包括上層調節裝置和下層調節裝置，所述上層調節裝置用于測試產品的左右調節，所述下層調節裝置用于測試產品的上下調節。

其中，所述增距鏡5靠近三角突架1的一端設置有調試對心窗口7，所述調試對心窗口7用于調試對中心裝置。

所述上導軌設有手拉裝置4，產品測試完污黑塊后，只需移動上導軌即可把下導軌的光源6一起移開。

所述CCM模組測試工裝中，底部調節裝置3但可實現工裝前后左右微調，采用模組放置位置固定來統一調試位置，采用雙導軌推動增距鏡和光源的方式來進行作業。實現模組測試過程達到一致性，并減少工作強度。