[實用新型]電路板自動測試轉(zhuǎn)盤

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320666475.5
• 申請日: 2013-10-25
• 公開（公告）號: CN203595726U
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吳德南;付慧勤;郭浩;黃宋發(fā);陳龍
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市博望電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 胡海國;于志光

1.一種電路板自動測試轉(zhuǎn)盤，其特征在于，包括機(jī)架、設(shè)置于該機(jī)架上的轉(zhuǎn)盤、驅(qū)動該轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置、用于測試電路板的上模組件、以及用于拾取所述電路板的機(jī)械臂，其中，

所述機(jī)架包括上機(jī)架和與該上機(jī)架相對設(shè)置的下機(jī)架；

所述轉(zhuǎn)盤設(shè)置于所述上機(jī)架與下機(jī)架之間且與所述下機(jī)架轉(zhuǎn)動連接，所述轉(zhuǎn)盤上設(shè)有至少兩個用于承載所述電路板的承載座；

所述上模組件設(shè)于所述轉(zhuǎn)盤上方且與所述上機(jī)架固定連接，所述上模組件設(shè)有用于測試所述電路板的第一測試端。

2.如權(quán)利要求1所述的電路板自動測試轉(zhuǎn)盤，其特征在于，所述驅(qū)動裝置為步進(jìn)電機(jī)。

3.如權(quán)利要求1所述的電路板自動測試轉(zhuǎn)盤，其特征在于，所述下機(jī)架上還設(shè)有入料平臺，所述入料平臺上設(shè)有用于識別電路板的掃描儀。

4.如權(quán)利要求1所述的電路板自動測試轉(zhuǎn)盤，其特征在于，所述下機(jī)架上還設(shè)有出料平臺。

5.如權(quán)利要求1所述的電路板自動測試轉(zhuǎn)盤，其特征在于，所述第一測試端包括測試端子和模擬插頭。

6.如權(quán)利要求1所述的電路板自動測試轉(zhuǎn)盤，其特征在于，還包括設(shè)于所述轉(zhuǎn)盤下方且與所述下機(jī)架固定連接的下模組件，所述下模組件設(shè)有用于測試所述電路板的第二測試端；所述承載座設(shè)有供所述第二測試端穿過的第一通孔。

7.如權(quán)利要求6所述的電路板自動測試轉(zhuǎn)盤，其特征在于，還包括用于顯示測試結(jié)果的顯示屏，該顯示屏與所述第一測試端和/或第二測試端電性連接。

8.如權(quán)利要求6所述的電路板自動測試轉(zhuǎn)盤，其特征在于，還包括與所述第一測試端和第二測試端電性連接的處理模塊，其中，第一測試端和第二測試端輸出測試電信號至所述處理模塊，所述處理模塊根據(jù)接收的測試電信號驅(qū)動所述機(jī)械臂做相應(yīng)運(yùn)動。

9.如權(quán)利要求1所述的電路板自動測試轉(zhuǎn)盤，其特征在于，還包括設(shè)于所述轉(zhuǎn)盤下方且與所述下機(jī)架固定連接的頂出組件，所述頂出組件設(shè)有用于將所述電路板從所述承載座上頂出的頂桿；所述承載座設(shè)有供所述頂桿穿過的第二通孔。