[實用新型]比色計比色光能譜測量儀

有效

• 申請號: 201320665843.4
• 申請日: 2013-10-25
• 公開（公告）號: CN203519166U
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發明（設計）人: 張守明
• 申請（專利權）人: 張守明
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28
• 代理公司: 安徽省合肥新安專利代理有限責任公司 34101
• 代理人: 何梅生;郭華俊

技術領域

本實用新型涉及一種比色計比色光能譜測量儀。

背景技術

比色分析應用廣泛，其原理主要是利用朗伯——比爾定律，其要求是必須在一定的單色光條件下才能獲得準確的結果，因此光源的單色性非常重要。老式比色計采用烏燈加濾光片獲得單色光來實現測量，但隨著LED光源的出現，使得過去的老式比色計逐步被淘汰，代替他們而使用單色性較好的LED光源的專用性極強的小型化比色計正在大量出現。目前為止，對于使用者來說，這些比色計的光源光譜特性是否滿足需要不得而知，原因是沒有對其波長進行測定的儀器，因此非常有必要加以解決。

從CCD技術的應用而發展起來的小型光譜儀已廣泛用于光譜測量需要的各領域，也被用于光譜特性測量領域，由于CCD光譜儀可以利用光纖采光，對于某些測量場合，它就有使用方便優勢，這也為直接測量LED光源光譜特性提供了可能。本發明所涉及的是一種比色計比色光能譜測量儀，就是通過采集比色計比色光線，經過CCD光譜儀進行分光、光電轉換而得到其能量譜圖，從而可知其光譜的中心波長和光譜帶寬等指標，以便判定比色計是否滿足預期的要求。

實用新型內容

本實用新型是為避免上述已有技術中存在的不足之處，提供一種比色計比色光能譜測量儀，以實現測量比色光的光譜的中心波長和光譜帶寬等指標、判定比色計是否滿足預期的要求。

本實用新型提供了一種比色計比色光能譜測量儀。

比色計比色光能譜測量儀，其結構特點是，包括光處理裝置和計算裝置；所述光處理裝置包括采光探頭和CCD光譜儀；所述采光探頭包括殼體，所述殼體側壁的下端開設有采光口，在所述殼體底部對應于所述采光口之處設置有凹面反光鏡，所述殼體的頂部設置有光纖采光頭，所述光纖采光頭通過光纖與所述CCD光譜儀相連接；所述計算裝置為計算機或平板電腦；所述CCD光譜儀與所述計算裝置相連接。

本實用新型的比色計比色光能譜測量儀的特點也在于：

所述光譜儀為CCD光譜儀。

所述光纖采光頭通過擋光蓋和固定螺絲設置于所述殼體的內上部中心位置；所述擋光蓋套設于所述殼體的上部，所述擋光蓋上開設有徑向螺孔，所述固定螺絲旋入所述徑向螺孔內并與所述殼體相抵接而將所述擋光蓋固定于所述殼體上；需要調整擋光蓋的位置時，松開固定螺絲上下移動擋光蓋至所需要的位置，再旋緊固定螺絲固定所述擋光蓋。

與已有技術相比，本實用新型有益效果體現在：

本實用新型的比色計比色光能譜測量儀，通過采光探頭采集比色計比色光線，經光纖傳導到CCD光譜儀，經CCD光譜儀分光、光電轉換后在平板電腦上顯示譜圖、參數等，根據這些參數和譜圖，從而可判定比色計比色光是否合乎相關指標的要求，提高比色計的測量精度。

本實用新型的比色計比色光能譜測量儀，具有可判定比色計比色光是否合乎相關指標的要求，提高比色計的測量精度、操作容易等優點。

附圖說明

圖1為本實用新型的比色計比色光能譜測量儀的結構示意圖。

附圖1中標號：1殼體，2采光口，3凹面反光鏡，4光纖采光頭，5光纖，6擋光蓋，7固定螺絲，8CCD光譜儀，9計算裝置，10光線。

以下通過具體實施方式，并結合附圖對本實用新型作進一步說明。

具體實施方式

參見圖1，比色計比色光能譜測量儀，其包括光處理裝置和計算裝置9；所述光處理裝置包括采光探頭和CCD光譜儀8；所述采光探頭包括殼體1，所述殼體1側壁的下端開設有采光口2，在所述殼體1底部對應于所述采光口2之處設置有凹面反光鏡3，所述殼體1的頂部設置有光纖采光頭4，所述光纖采光頭4通過光纖5與所述CCD光譜儀8相連接；所述計算裝置9為計算機或平板電腦；所述CCD光譜儀8與所述計算裝置9相連接。

所述光譜儀8為CCD光譜儀。

所述光纖采光頭4通過擋光蓋6和固定螺絲7設置于所述殼體1的內上部中心位置；所述擋光蓋6套設于所述殼體1的上部，所述擋光蓋6上開設有徑向螺孔，所述固定螺絲7旋入所述徑向螺孔內并與所述殼體1相抵接而將所述擋光蓋6固定于所述殼體1上；需要調整擋光蓋6的位置時，松開固定螺絲7上下移動擋光蓋6至所需要的位置，再旋緊固定螺絲7固定所述擋光蓋6。

測試時，采光探頭需要插入被測的比色計的比色室。將采光探頭的采光口對準需要采光的部位——比色計的光源。此時，采光探頭的擋光蓋卡在所述比色室的外端。通過調整擋光蓋的位置，可以調整采光探頭伸入到比色室的深度，從而實現采光口的采光位置的調整。