[實(shí)用新型]用于奧氏體不銹鋼焊縫超聲檢測(cè)的對(duì)比試塊組有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320623502.0 | 申請(qǐng)日: | 2013-10-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN203479764U | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-03-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 羅為民;劉建屏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)家電網(wǎng)公司;華北電力科學(xué)研究院有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01N29/30 | 分類號(hào): | G01N29/30 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 奧氏體 不銹鋼 焊縫 超聲 檢測(cè) 比試 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體的是一種用于奧氏體不銹鋼焊縫超聲檢測(cè)的對(duì)比試塊組。
背景技術(shù)
在電力發(fā)電及其他化工等領(lǐng)域,有不少奧氏體制造的壓力容器。為了保證這些設(shè)備的質(zhì)量,需要對(duì)這些焊縫內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。可選方案一般有射線和超聲波兩種,其中超聲檢測(cè)由于奧氏體焊縫組織晶粒粗大和各向異性的因素,難以進(jìn)行有效檢測(cè)。設(shè)備在制造過(guò)程中,制造廠一般采用射線檢測(cè),成本高,效率低而其伴隨輻射損傷風(fēng)險(xiǎn),設(shè)備進(jìn)入服役階段,大多因?yàn)榻Y(jié)構(gòu)原因,無(wú)法再采用射線檢測(cè)的方式。開(kāi)發(fā)奧氏體焊縫檢測(cè)系統(tǒng),克服超聲檢測(cè)的困難,滿足靈敏度要求,是無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域急需解決的問(wèn)題。
雖然無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》附錄N規(guī)定了奧氏體不銹鋼焊縫的超聲波檢測(cè),也給出了調(diào)節(jié)靈敏度的試塊,但是在奧氏體超聲檢測(cè)中,最大的問(wèn)題是信噪比不足以及難以達(dá)到所需靈敏度,所以針對(duì)每一套超聲檢測(cè)系統(tǒng),必須在檢測(cè)前測(cè)試系統(tǒng)是否具有足夠的信噪比以及能否達(dá)到指定的靈敏度,上述《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的試塊不能很好完成這一目的,同時(shí)體積大也不便攜帶。
實(shí)用新型內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有的對(duì)比試塊的靈敏度差不便于攜帶的技術(shù)問(wèn)題。本實(shí)用新型提供了一種用于奧氏體不銹鋼焊縫超聲檢測(cè)的對(duì)比試塊組,可以測(cè)試奧氏體焊縫超聲檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)能力,也可以用于檢測(cè)前的靈敏度調(diào)節(jié),還很小巧便于攜帶。
本實(shí)用新型為解決其技術(shù)問(wèn)題采用的技術(shù)方案是:一種用于奧氏體不銹鋼焊縫超聲檢測(cè)的對(duì)比試塊組,包括多個(gè)對(duì)比試塊,每個(gè)對(duì)比試塊的側(cè)面設(shè)有焊縫,每個(gè)對(duì)比試塊內(nèi)含有至少一個(gè)通孔,通孔的中心線平行于該通孔所在對(duì)比試塊的上表面,所有通孔的中心線到該通孔所在對(duì)比試塊的上表面的距離為一等差數(shù)列。
通孔的中心線垂直于焊縫的焊接行進(jìn)方向,通孔的中心線垂直于焊縫所在的表面。
通孔貼著焊縫。
通孔的直徑為2mm。
該等差數(shù)列為從2mm到30mm的等差數(shù)列,并且該等差數(shù)列的公差為1mm。
每個(gè)對(duì)比試塊的大小和外形均相同,當(dāng)一個(gè)對(duì)比試塊內(nèi)含有多個(gè)通孔時(shí),相鄰兩個(gè)通孔的中心線之間的距離大于等于8mm。
所述用于奧氏體不銹鋼焊縫超聲檢測(cè)的對(duì)比試塊組包括四個(gè)對(duì)比試塊,分別為第一對(duì)比試塊、第二對(duì)比試塊、第三對(duì)比試塊和第四對(duì)比試塊;第一對(duì)比試塊中含有三個(gè)通孔,第一對(duì)比試塊內(nèi)的三個(gè)通孔的中心線到第一對(duì)比試塊的上表面的距離分別為8mm、16mm、24mm;第二對(duì)比試塊中含有四個(gè)通孔,第二對(duì)比試塊內(nèi)的四個(gè)通孔的中心線到第二對(duì)比試塊的上表面的距離分別為2mm、10mm、18mm、26mm;第三對(duì)比試塊中含有四個(gè)通孔,第三對(duì)比試塊內(nèi)的四個(gè)通孔的中心線到第三對(duì)比試塊的上表面的距離分別為4mm、12mm、20mm、28mm;第四對(duì)比試塊中含有四個(gè)通孔,第四對(duì)比試塊內(nèi)的四個(gè)通孔的中心線到第四對(duì)比試塊的上表面的距離分別為6mm、14mm、22mm、30mm。
該四個(gè)對(duì)比試塊的厚度均為33mm;第一對(duì)比試塊中三個(gè)通孔的中心線到第一對(duì)比試塊的下表面的距離分別為25mm、17mm、9mm;第二對(duì)比試塊中四個(gè)通孔的中心線到第二對(duì)比試塊的下表面的距離分別為31mm、23mm、15mm、7mm;第三對(duì)比試塊中四個(gè)通孔的中心線到第三對(duì)比試塊的下表面的距離分別為29mm、21mm、13mm、5mm;第四對(duì)比試塊中四個(gè)通孔的中心線到第四對(duì)比試塊的下表面的距離分別為27mm、19mm、11mm、3mm。
每個(gè)對(duì)比試塊的一端均設(shè)有半徑分別為15mm和30mm的圓弧形表面。
在每個(gè)對(duì)比試塊的側(cè)面,每個(gè)通孔的一側(cè)設(shè)有用于表示該通孔的中心線到該對(duì)比試塊上表面距離的孔深標(biāo)識(shí)和箭頭標(biāo)識(shí),每個(gè)通孔的另一側(cè)設(shè)有用于表示該通孔的中心線到該對(duì)比試塊下表面距離的孔深標(biāo)識(shí)和箭頭標(biāo)識(shí)。
本實(shí)用新型的有益效果是:可以同時(shí)測(cè)試奧氏體超聲檢測(cè)系統(tǒng)是否具有足夠的信噪比和調(diào)節(jié)檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度,還很小巧便于攜帶。另外,孔位置的分布做了最佳優(yōu)化,使得同一試塊上的相鄰孔不相互干擾,板厚選擇在30mm以上,可以避免側(cè)壁干擾,如果選取20mm厚,則存在側(cè)壁干擾。
附圖說(shuō)明
下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型所述的用于奧氏體不銹鋼焊縫超聲檢測(cè)的對(duì)比試塊組作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。
圖1是用于奧氏體不銹鋼焊縫超聲檢測(cè)的對(duì)比試塊組中第一對(duì)比試塊的主視圖。
圖2是用于奧氏體不銹鋼焊縫超聲檢測(cè)的對(duì)比試塊組中第一對(duì)比試塊的俯視圖。
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