[實(shí)用新型]超聲手動縱-縱-縱波檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320604802.4
• 申請日: 2013-09-27
• 公開（公告）號: CN203490198U
• 公開（公告）日: 2014-03-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄧顯余;賽鵬;王佐森;周海波;鄧屾;李港;羅輝
• 申請（專利權(quán)）人: 哈電集團(tuán)（秦皇島）重型裝備有限公司
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04
• 代理公司: 北京遠(yuǎn)大卓悅知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11369
• 代理人: 劉冬梅

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及超聲手動縱-縱-縱（L-L-L）波檢測裝置，尤其是涉及一種雙晶片合成探頭，檢驗(yàn)工件厚度大于120mm以及焊縫兩邊檢測區(qū)域不足的焊縫中的與檢測表面垂直的面積型缺陷裝置。?

背景技術(shù)

目前國內(nèi)外在焊接領(lǐng)域里使用窄間隙坡口焊接的產(chǎn)品越來越多，工件厚度也是越來越大，厚度大于120mm的焊縫已是常見，厚度大于200mm的甚至厚度大于300mm的也經(jīng)常出現(xiàn)。而相應(yīng)的無損內(nèi)部檢驗(yàn)工作卻帶來許多困擾，原因也是明顯的，兩大類檢測射線和超聲波的設(shè)備所具有能量，已是無法滿足超厚焊縫的檢驗(yàn)。而焊縫中最危險(xiǎn)的缺陷，即垂直檢測面的面積型缺陷，又是射線和超聲波檢驗(yàn)的弱項(xiàng)。對此A超脈沖反射法中的串列式檢驗(yàn)也沒有了優(yōu)勢，時(shí)差衍射法也有著定性困難的缺點(diǎn)。此外，某些產(chǎn)品的特殊結(jié)構(gòu)，焊縫兩邊直段寬度過窄，正常的超聲波檢測已無法進(jìn)行，使得焊縫內(nèi)部真實(shí)情況無法掌握。?

實(shí)用新型內(nèi)容

鑒于此，本發(fā)明人對較厚或超厚（厚度大于120mm）焊縫和檢查區(qū)域不夠的焊縫進(jìn)行了研究。結(jié)果發(fā)現(xiàn)了超聲手動縱-縱-縱波檢測裝置，即L-L-L波檢測裝置。本實(shí)用新型使用的是由雙晶片構(gòu)成的小角度、縱波斜的探頭（探頭結(jié)構(gòu)見圖1a），該探頭成功的消除了因聲束擴(kuò)散引起的底表面回波，利用聲波的?直接反射和經(jīng)缺陷反射到底面，又由底面反射回探頭，從而檢出焊縫中的體積型和垂直面積型缺陷。該裝置的另一優(yōu)點(diǎn)是利用小角度縱波的能量大、探頭移動距離短的特點(diǎn)，使得超厚焊縫和焊縫兩邊距離小的檢測得以實(shí)現(xiàn)。本實(shí)用新型提供一種超聲手動縱-縱-縱波檢測裝置，該裝置中使用一種雙晶片合成探頭，對超厚焊縫和檢驗(yàn)區(qū)域不足的焊縫進(jìn)行檢測，確保與檢測表面垂直的面積型缺陷和體積型的檢出率，為評價(jià)工件內(nèi)部真實(shí)質(zhì)量提供更有力度的檢測結(jié)果。從而完成本實(shí)用新型。?

本實(shí)用新型的目的在于提供以下方面：?

（1）超聲手動縱-縱-縱波檢測裝置，其特征在于，該裝置包括通過電纜線8相連的超聲波探傷儀5和雙晶片合成探頭9，?

其中，雙晶片合成探頭9包括：?

發(fā)射晶片1，其通過電纜線與超聲波探傷儀的發(fā)射插座6連接，和?

接收晶片2，其通過電纜線與超聲波探傷儀的接收插座7連接。?

（2）根據(jù)上述（1）所述的超聲手動縱-縱-縱波檢測裝置，其特征在于，?

雙晶片合成探頭9還包括：?

外殼24，其內(nèi)部底面設(shè)置橫截面為L型有機(jī)玻璃支架21，所述有機(jī)玻璃支架21由水平支架和與水平支架前部相連的立式支架組成，其中，在立式支架的頂端設(shè)置發(fā)射晶片1，在發(fā)射晶片1頂端設(shè)置阻尼材料23，在水平支架的頂端設(shè)置接收晶片2，在接收晶片2頂端設(shè)置阻尼材料23，和?

吸聲材料22，其設(shè)置于立式支架的前、后兩側(cè)的表面上。?

（3）根據(jù)上述（1）所述的超聲手動縱-縱-縱波檢測裝置，其特征在于，?

所述雙晶片合成探頭的縱波折射角范圍是6°-13°；?

所述發(fā)射晶片尺寸為8mm×9mm至18mm×18mm；?

所述接收晶片尺寸為8mm×9mm至18mm×18mm。?

（4）根據(jù)上述（1）所述的超聲手動縱-縱-縱波檢測裝置，其特征在于，?

所述雙晶片合成探頭中發(fā)射晶片和接收晶片都是曲率晶片，兩晶片的擺放角度基本一致，發(fā)射晶片位置的高度距離大于聲場0.5倍的近場區(qū)距離。?

根據(jù)本實(shí)用新型提供的超聲手動縱-縱-縱波檢測裝置，不但能對與檢測表面垂直的面積型缺陷有著良好的檢出，同時(shí)也可檢出大部分體積型缺陷。另外，本發(fā)明人研制的雙晶片合成探頭成功的消除了由探頭擴(kuò)散引起的底表面回波。在底表面位置上只有缺陷回波而無底面回波，開創(chuàng)了L-L-L波檢測內(nèi)部垂直缺陷的先河，填補(bǔ)了國內(nèi)外此種裝置的空白。此裝置特別適用厚度大于120mm的焊縫和焊縫兩邊檢測區(qū)域不足焊縫的檢測。在超厚焊縫大量增多的現(xiàn)在，為準(zhǔn)確的評價(jià)焊縫的真實(shí)質(zhì)量，此裝置有著非常實(shí)用的使用價(jià)值。?

附圖說明

圖1a是根據(jù)本實(shí)用新型一種優(yōu)選實(shí)施方式的雙晶片合成探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；?

圖1b是根據(jù)本實(shí)用新型一種優(yōu)選實(shí)施方式的雙晶片合成探頭的剖面示意圖?

圖2是常規(guī)的超聲波檢測裝置及檢測示意圖；?

圖3是根據(jù)本實(shí)用新型一種優(yōu)選實(shí)施方式的超聲手動縱-縱-縱波檢測裝置示意圖?

圖4a是根據(jù)本實(shí)用新型一種優(yōu)選實(shí)施方式檢測原理的示意?圖；?

圖4b是根據(jù)本實(shí)用新型一種優(yōu)選實(shí)施方式顯示回波的示意圖；?