[實用新型]電流互感器二次繞組尖端放電試驗裝置

有效

• 申請號: 201320602695.1
• 申請日: 2013-09-27
• 公開（公告）號: CN203535175U
• 公開（公告）日: 2014-04-09
• 發明（設計）人: 王宇;李麗
• 申請（專利權）人: 廣東電網公司電力科學研究院
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 謝偉;曾旻輝

技術領域

本實用新型涉及高壓電器輸電設備領域，特別是涉及一種電流互感器二次繞組尖端放電試驗裝置。

背景技術

電流互感器內一般封裝有六氟化硫氣體以作絕緣之用。電流互感器局部放電產生的六氟化硫分解氣體會腐蝕金屬表面、加速絕緣的老化，最終發展為擊穿放電事故，造成很大的經濟損失。

近年來，國內外對六氟化硫分解氣體組分檢測進行了大量研究，取得了一些初步成果，但對各種絕緣缺陷下的局部放電引起六氟化硫氣體的分解過程、分解速率、分解產物相對含量以及影響因素等不同，特別是氣體分解產物相對含量與局部放電類型的關聯比對關系還不清楚，需要進行更加深入的基礎研究。在深入的研究中，如何有效布置缺陷，使缺陷布置更接近實際運行設備中可能出現的缺陷，是模擬實驗中最為關鍵的因素之一。

實用新型內容

基于此，有必要針對現有技術缺陷，提供一種能夠真實、有效模擬電流互感器存在缺陷時尖端放電情況的電流互感器二次繞組尖端放電試驗裝置。

其技術方案如下。

一種電流互感器二次繞組尖端放電試驗裝置，包括高電位外殼和一次導桿，所述高電位外殼內設置有二次繞組，所述一次導桿貫穿二次繞組和高電位外殼，所述二次繞組上設置有金屬突出物。

在二次繞組的表面上設置金屬突出物，能夠有效地模擬金屬碎屑等金屬脫落物在二次繞組表面時二次繞組表面發生的尖端放電的情況，從而有利于缺陷模擬試驗的研究。

在其中一個實施例中，所述二次繞組包括二次線圈和二次線圈外屏蔽罩，所述二次線圈設置于所述二次線圈外屏蔽罩內，所述金屬突出物設置于所述二次線圈外屏蔽罩上。金屬突出物設置在二次線圈外屏蔽罩上，在電流互感器實際運行中，二次線圈外屏蔽罩被放電擊穿事故時常發生，故在二次線圈屏蔽罩上設置金屬突出物，可真實、有效地模擬二次繞組尖端放電的情況。

在其中一個實施例中，所述金屬突出物為“L”型金屬桿，“L”型金屬桿包括相互連接的水平部和垂直部，該水平部貼合于所述的二次線圈外屏蔽罩的表面。“L”型金屬桿的水平部貼合二次線圈外屏蔽罩的表面，經電場計算，二次繞組上二次線圈外屏蔽罩的表面電場畸變最為厲害，能夠較為準確、有效的模擬典型電流互感器結構中二次繞組尖端放電缺陷。

在其中一個實施例中，電流互感器二次繞組尖端放電試驗裝置還包括絕緣支撐件和底座，所述高電位外殼通過絕緣支撐件支承于所述底座之上。

在其中一個實施例中，所述絕緣支撐件為絕緣筒體，絕緣筒體內設置有內腔，所述絕緣筒體的一端與高電位外殼相連接，另一端與底座相連接。

下面對本技術方案的優點或原理進行說明。

在二次繞組的表面上設置金屬突出物，能夠有效地模擬金屬碎屑等金屬脫落物在二次繞組表面時二次繞組表面發生的尖端放電的情況，從而有利于缺陷模擬試驗的研究。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例所述電流互感器二次繞組尖端放電試驗裝置的結構示意圖；

圖2為圖1中A處的局部放大視圖；

附圖標記說明：

10、高電位外殼，20、絕緣支撐件，30、底座，40、一次導桿，50、二次繞組，510、二次線圈外屏蔽罩，520、二次線圈，60、“L”型金屬桿。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型實施例進行詳細的說明。

如圖1—2所示電流互感器二次繞組尖端放電試驗裝置，包括高電位外殼10、絕緣支撐件20和底座30，高電位外殼10通過絕緣支撐件20支承于底座30上。絕緣支撐件20為絕緣筒體，其內部設置有用于安放導線的內腔。絕緣筒體為一內部中空的筒體，其一端與高電位外殼10相連接，另一端與底座30相連接。在本實施例中，絕緣筒體采用硅橡膠復合絕緣套筒或者高強瓷套筒，當然在其他實施例中亦可采用其他材料作為絕緣筒體。高電位外殼10內封裝有六氟化硫氣體，以作絕緣之用。

其中，電流互感器二次繞組尖端放電試驗裝置還包括有一次導桿40。高電位外殼10上設置有相對的第一安裝孔和第二安裝孔，高電位外殼10內部設置有二次繞組50，一次導桿40穿過第一安裝孔、二次繞組50和第二安裝孔，從而貫穿高電位外殼10和二次繞組50，一次導桿40水平穿過二次繞組50的中心。二次繞組50包括二次線圈520和二次線圈520外屏蔽罩510，二次線圈520設置在二次線圈520外屏蔽罩510內。金屬突出物設置在二次線圈520外屏蔽罩510的表面上。二次線圈520外屏蔽罩510中部設置通孔，一次導桿40穿過通孔從而貫穿二次繞組50。