[實用新型]用于測量研磨樣片的透光率的裝置

有效

• 申請號: 201320599595.8
• 申請日: 2013-09-26
• 公開（公告）號: CN203479706U
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 董清世;張建強;祝宏順;孫志夫
• 申請（專利權）人: 信義玻璃（天津）有限公司
• 主分類號: G01N21/59
• 分類號: G01N21/59
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

技術領域

本實用新型涉及一種用于測量研磨樣片的透光率的裝置。

背景技術

目前用于測量研磨樣片的透光率的裝置的檢測測量口直徑為40毫米，致使無法實現準確檢測研磨樣片的透光率。鑒于此，有必要提供一種簡易實用、測量準確和操作簡單的測量研磨樣片的透光率的裝置。

實用新型內容

為解決現有技術無法準確測量研磨樣片的透光率的問題，本實用新型提供一種改進的用于測量研磨樣片的透光率的裝置。由如下技術方案實現：

一種用于測量研磨樣片的透光率的裝置,包括暗箱，光源發生器安裝在暗箱內部的一側，檢測平臺位于暗箱中部；在暗箱內部的另一側設有與該光源發生器相對的測試端，在檢測平臺位于光源發生器方向的一側設有鋼板，所述鋼板的中心設有直徑為12毫米的圓孔。

所述的用于測量研磨樣片的透光率的裝置,所述檢測平臺的測量口直徑為40毫米。

所述的用于測量研磨樣片的透光率的裝置,所述鋼板由彈簧夾固定在檢測平臺的一側。

在測量研磨過的100毫米*100毫米鍍膜玻璃樣片時，鍍膜玻璃樣片研磨的寬度為10毫米，放入本實用新型提供的裝置后使得光源經過鋼板的12毫米的圓孔，能夠準確的測量到研磨的位置，使得研磨試驗測量的可見光透射比更加準確并易于操作，減少因測量位置偏移造成的測量結果誤差，從而達到研磨試驗實用、準確和易于操作的效果。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖。

附圖標記說明：1光源發生器；2光束；3檢測平臺；4測試端；5鋼板；6圓孔；7測量口；8暗箱。

具體實施方式

如圖1所示，本實用新型一種用于測量研磨樣片的透光率的裝置,包括暗箱8，光源發生器1安裝在暗箱8內部的一側，檢測平臺3位于中部；在暗箱8內部的另一側設有與該光源發生器1相對的測試端4，在檢測平臺3位于光源發生器1方向的一側設有鋼板5，鋼板5由彈簧夾固定在檢測平臺3的一側。所述鋼板5的中心設有直徑為12毫米的圓孔6。所述檢測平臺3的測量口7直徑為40毫米。

在測量研磨過的100毫米*100毫米鍍膜玻璃樣片時，鍍膜玻璃樣片研磨的寬度為10毫米，放入本實用新型提供的裝置后使得光源經過鋼板的12毫米的圓孔，能夠準確的測量到研磨的位置，使得研磨試驗測量的可見光透射比更加準確并易于操作，減少因測量位置偏移造成的測量結果誤差，從而達到研磨試驗實用、準確和易于操作的效果。