[實用新型]物體表面采樣器有效
| 申請號： | 201320595452.X | 申請日： | 2013-09-25 |
| 公開（公告）號： | CN203474804U | 公開（公告）日： | 2014-03-12 |
| 發明（設計）人： | 張莉華 | 申請（專利權）人： | 上海市嘉定區中心醫院 |
| 主分類號： | C12M1/26 | 分類號： | C12M1/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 高靜;駱蘇華 |
| 地址： | 201800*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 物體 表面 采樣 | ||
【權利要求書】：
1.一種物體表面采樣器，其特征在于，包括：
采樣機構，設有與被采樣樣本表面相匹配的表面；
采樣量化區域，由所述采樣機構圍成，具有預設采樣面積。
2.如權利要求1所述的物體表面采樣器，其特征在于：
所述采樣機構為一矩形框架；
所述采樣量化區域為所述矩形框架圍成的矩形采樣量化區域。
3.如權利要求2所述的物體表面采樣器，其特征在于，所述采樣機構為與被采樣樣本表面相垂直的金屬板構成的正方形框架。
4.如權利要求3所述的物體表面采樣器，其特征在于，所述正方形框架的邊長為5厘米。
5.如權利要求3所述的物體表面采樣器，其特征在于，所述金屬板在垂直于被采樣樣本表面具有預設高度延伸面。
6.如權利要求2所述的物體表面采樣器，其特征在于，所述矩形框架為圓角矩形框架。
7.如權利要求1所述的物體表面采樣器，其特征在于，所述物體表面采樣器還包括：設置于所述采樣機構外表面的手柄。
8.如權利要求7所述的物體表面采樣器，其特征在于，所述手柄為圓弧狀彎曲的手柄或階梯狀彎曲的手柄。
9.如權利要求8所述的物體表面采樣器，其特征在于，所述手柄朝所述采樣量化區域外部彎曲，且沿垂直于被采樣樣本表面的方向延伸。
10.如權利要求7所述的物體表面采樣器，其特征在于，所述手柄為金屬手柄，所述采樣機構為金屬采樣機構，所述手柄與所述采樣機構焊接連接。
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