[實(shí)用新型]端子壓接質(zhì)量檢測(cè)裝置及端子壓接系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320594313.5 | 申請(qǐng)日: | 2013-09-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203489858U | 公開(公告)日: | 2014-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高偉;方祥建;唐峰;夏振宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 珠海格力電器股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B21/02 | 分類號(hào): | G01B21/02;G01B21/16;H01R43/048 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 陳振;李雙皓 |
| 地址: | 519070 *** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 端子 質(zhì)量 檢測(cè) 裝置 系統(tǒng) | ||
1.一種端子壓接質(zhì)量檢測(cè)裝置,用于檢測(cè)端子壓接是否到位,其特征在于,包括:
測(cè)量所述端子壓接后芯線壓接部的高度的芯線壓接高度檢測(cè)模塊;
測(cè)量所述端子壓接后絕緣層壓接部的高度的絕緣層壓接高度檢測(cè)模塊;
測(cè)量所述端子壓接后絕緣層邊緣與所述芯線壓接部的距離的絕緣層與芯線壓接部距離檢測(cè)模塊;
主控模塊,分別連接所述芯線壓接高度檢測(cè)模塊、所述絕緣層壓接高度檢測(cè)模塊和所述絕緣層與芯線壓接部距離檢測(cè)模塊,將所述芯線壓接高度檢測(cè)模塊、所述絕緣層壓接高度檢測(cè)模塊和所述絕緣層與芯線壓接部距離檢測(cè)模塊的測(cè)量結(jié)果與相應(yīng)的預(yù)設(shè)閾值分別進(jìn)行比對(duì),判斷所述端子壓接是否到位。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的端子壓接質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于,還包括芯線檢測(cè)模塊,連接所述主控模塊,所述芯線檢測(cè)模塊檢測(cè)絕緣層與所述芯線壓接部之間是否有芯線、芯線是否斷裂以及芯線是否露出所述芯線壓接部;所述芯線檢測(cè)模塊還測(cè)量所述芯線壓接部相對(duì)于所述絕緣層的一側(cè)芯線露出的長(zhǎng)度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的端子壓接質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于,還包括顯示模塊,所述顯示模塊連接所述主控模塊;
所述顯示模塊顯示所述芯線壓接高度檢測(cè)模塊、所述絕緣層壓接高度檢測(cè)模塊、所述絕緣層與芯線壓接部距離檢測(cè)模塊的測(cè)量結(jié)果以及所述端子壓接是否到位的檢測(cè)結(jié)果。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的端子壓接質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于,所述端子壓接質(zhì)量檢測(cè)裝置為可旋轉(zhuǎn)式端子壓接質(zhì)量檢測(cè)裝置,從不同的角度檢測(cè)所述端子壓接是否到位。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的端子壓接質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于,所述端子壓接質(zhì)量檢測(cè)裝置包括位于端子壓接機(jī)兩側(cè)的兩個(gè)端子壓接質(zhì)量檢測(cè)單元,每個(gè)所述端子壓接質(zhì)量檢測(cè)單元分別包括所述芯線壓接高度檢測(cè)模塊、所述絕緣層壓接高度檢測(cè)模塊和所述絕緣層與芯線壓接部距離檢測(cè)模塊,從所述端子壓接機(jī)兩側(cè)分別檢測(cè)所述端子壓接是否到位。
6.一種端子壓接系統(tǒng),包括端子壓接機(jī),其特征在于,還包括權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的端子壓接質(zhì)量檢測(cè)裝置。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于珠海格力電器股份有限公司,未經(jīng)珠海格力電器股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201320594313.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種非線性圖像多尺度幾何表示方法
- 下一篇:一種路燈控制器
- 同類專利
- 專利分類
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





