[實用新型]OLED材料和/或器件結構測試專用掩模板

有效

• 申請號: 201320567105.6
• 申請日: 2013-09-12
• 公開（公告）號: CN203535024U
• 公開（公告）日: 2014-04-09
• 發明（設計）人: 田朝勇;劉常富;周剛;郎豐偉
• 申請（專利權）人: 四川虹視顯示技術有限公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227
• 代理人: 周永宏

技術領域

本實用新型屬于OLED顯示技術領域，設計OLED材料和/或器件結構的測試工序，具體涉及一種OLED材料和/或器件結構測試專用掩模板。

背景技術

OLED材料體系設計和器件結構設計是OLED技術研究和產品開發的關鍵，而材料的優選測試和器件結構實驗是檢驗材料體系和器件結構設計的重要手段。傳統的材料優選測試和器件結構實驗通常是在一張基板上進行一項測試。為了操作方便或者結構的需要，通常一張基板上不止一個甚至多達20余個可用于測試的cell，而為達到測試目的所需的cell有一個或者幾個就足夠，這種采用一張基板進行一項測試的方法必然造成了大量的浪費。也有為了減少基板等耗材的浪費，將一張基板上的cell分割成單個cell進行測試，但是由于切割后的cell體積過小，在試驗操作時很不方便。

并且，由于需要測試材料種類繁多，可能的器件結構千差萬別，也就是說為達到測試的全面性，需要進行大量的測試，這將導致OLED材料和器件結構測試既費時費力，又浪費原材料和消耗較多的設備動力費。

實用新型內容

本實用新型為了解決現有的OLED材料和/或器件結構測試造成大量基板浪費且測試效率低下的不足，提出了一種專用于OLED材料和/或器件結構測試的掩模板。

本實用新型的技術方案是：OLED材料和/或器件結構測試專用掩模板，其特征在于，包括：掩模板本體和貼布，所述掩模板本體外形與基板一致，并在與基板測試區域（cell）對應的位置設置有測試窗，掩模板本體用于保護非測試窗對應的基板區域；所述貼布與掩模板本體貼合并遮擋部分測試窗，用于保護被遮擋的測試窗對應的基板區域。

進一步的，所述貼布為膠帶，可與掩模板多次貼合。

進一步的，所述掩模板本體包括按4×4矩陣排列的16個測試窗，用于包含16個按同樣方式排列的cell的基板測試。

進一步的，所述貼布為可同時貼合掩模板本體的相鄰兩個測試窗的矩形膠帶。

進一步的，所述貼布為可同時貼合掩模板本體的2×2的測試窗組成的矩陣區域的矩形膠帶。

進一步的，上述掩模板包括一張掩模板本體和3張貼布，3張貼布分別貼合到掩模板本體上3個2×2的測試窗組成的矩陣區域。

本實用新型的OLED材料和/或器件結構測試專用掩模板通過在掩模板本體上設置測試窗，并根據需要設置不同的貼布可以針對不同的測試需求在一張基板上進行多項測試，節約了測試用基板的浪費，提高了測試效率。

附圖說明

圖1為本實用新型的掩模板本體結構示意圖；

圖2為本實用新型實施例的掩模板分區示意圖；

圖3為本實用新型另一實施例的掩模板分區示意圖；

圖4中a為圖3所示實施例的掩模板貼合貼布示意圖；b為相應的貼布示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步詳述。

圖1至圖4所示為與本實用新型原理相同的具體實施例。如圖1和圖4所示，本實施例的一種OLED材料和/或器件結構測試專用掩模板，包括：掩模板本體和貼布，所述掩模板本體外形與基板一致，并在與基板測試區域（cell）對應的位置設置有測試窗。其中基板測試區域是指需要進行材料和/或結構測試的區域，主要是基板的cell區域。掩模板本體用于保護非測試窗對應的基板區域；所述貼布與掩模板本體貼合并遮擋部分測試窗，用于保護被遮擋的測試窗對應的基板區域，如圖4中a所示，另貼布如圖4中b所示。由于通常使用的基板一般包含4×4矩陣排列的16個cell，所以為了適應大多數測試情況，本實施例的掩模板本體優選為包括按4×4矩陣排列的16個測試窗，用于包含16個按同樣方式排列的cell的基板測試。在方案中，貼布可以是各種可貼合到掩模板本體上并對被貼合的區域起到保護作用的材料，不過出于成本考慮，貼布優選為可同時貼合掩模板本體的相鄰兩個測試窗的矩形膠帶或者可同時貼合掩模板本體的2×2的測試窗組成的矩陣區域的矩形膠帶。其中“可同時貼合掩模板本體的相鄰兩個測試窗”以及“可同時貼合掩模板本體的2×2的測試窗組成的矩陣區域”均為一種優選的具體形式。本領域的普通技術領域應該理解本實用新型的方案包含但不限于這種特殊形式。

為了便于理解本實用新型的原理，以下提供一種利用該OLED材料和/或器件結構測試專用掩模板的使用過程，該過程包括以下步驟：