[實用新型]金相顯微鏡檢測固定裝置

有效

• 申請號: 201320532594.1
• 申請日: 2013-08-29
• 公開（公告）號: CN203465186U
• 公開（公告）日: 2014-03-05
• 發明（設計）人: 陳嵩;陳小韓;葉振華;謝小明;黃凱湃;黃舜堯;陳世旺;吳永波;楊文彬
• 申請（專利權）人: 福建省鍋爐壓力容器檢驗研究院
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于：它包括外層固定框架（1）、第一層調節架（2）、第二層調節架（3）、顯微鏡固定架（4），四者依次由外到內固定連接，第一層調節架（2）的中心軸線上對稱分布有兩個擺動軸A（21）與外層固定框架（1）相連，二者通過固定件（22）進行固定，第二層調節架（3）的中心軸線上對稱分布有兩個擺動軸B（31）與第一層調節架（2）相連，二者通過固定件（22）進行固定，擺動軸A（21）與擺動軸B（31）相垂直，顯微鏡固定架（4）固定于第二層調節架（3）。

2.根據權利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于：在外層固定框架（1）的表面、擺動軸A（21）的上方鉆有與擺動軸A軸孔相通的緊定螺釘孔（11），同樣在第一層調節架（2）擺動軸A（21）上表面處開有與固定件（22）相配合的通孔。

3.根據權利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于：在第一層調節架（2）的表面、擺動軸B（31）的上方鉆有與擺動軸B軸孔相通的緊定螺釘孔，同樣在第二層調節架（3）擺動軸B（31）上表面處開有與固定件（22）相配合的通孔。

4.根據權利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于：第一層調節架（2）的上表面對稱分布有兩個凸出框架的調整耳（23），調整耳（23）上設置有調整螺孔（24），固定件（22）為與調整螺孔（24）相配合的調整螺釘，在外層固定框架（1）與調整耳（23）相對應處開有調整槽（12），調整槽（12）的深度大于調整耳（23）的厚度。

5.根據權利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于：第二層調節架（3）的上表面對稱分布有兩個凸出框架的調整耳（23），調整耳（23）上設置有調整螺孔（24），固定件（22）為與調整螺孔（24）相配合的調整螺釘，在第一層調節架（2）與調整耳（23）相對應處開有調整槽（12），調整槽（12）的深度大于調整耳（23）的厚度。

6.根據權利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于：外層固定框架（1）為四邊形，其下表面的四個角固定有磁性座。

7.根據權利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于：外層固定框架（1）為圓形，其下表面的均勻布置有三個磁性座（14）。

8.根據權利要求1所述的一種金相顯微鏡檢測固定裝置，其特征在于：外層固定框架（1）下方固定有管箍（15）。