[實用新型]用于檢測綜合驗光儀的光學系統和光學檢測裝置

有效

• 申請號: 201320530271.9
• 申請日: 2013-08-28
• 公開（公告）號: CN203443766U
• 公開（公告）日: 2014-02-19
• 發明（設計）人: 劉文麗;李飛;洪寶玉;張吉焱;馬振亞;孫劼
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G02B7/182;G02B17/08
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 吳貴明;張永明

1.一種用于檢測綜合驗光儀的光學系統，其特征在于，包括：

分光元件（10）；

第一物鏡（20）；

第一反光元件（30），所述第一反光元件（30）設置在所述分光元件（10）和所述第一物鏡（20）之間，且所述分光元件（10）和所述第一物鏡（20）均位于所述第一反光元件（30）的反射光路中；

分劃板（40），所述分劃板（40）上具有基準圖案，所述分劃板（40）位于所述分光元件（10）的反射光路中，且所述分劃板（40）設置于所述第一物鏡（20）的物方焦點上；

調焦元件（50），所述第一物鏡（20）設置在所述調焦元件（50）和所述第一反光元件（30）之間；

第二物鏡（60），所述第二物鏡（60）設置在所述調焦元件（50）和所述第一物鏡（20）之間，所述調焦元件（50）與所述第二物鏡（60）之間的距離可調節；

成像元件（70），所述成像元件（70）位于所述分光元件（10）的出射光路中。

2.根據權利要求1所述的光學系統，其特征在于，所述光學系統還包括第二反光元件（80），所述第二反光元件（80）設置在所述調焦元件（50）與所述第二物鏡（60）之間，且所述調焦元件（50）與所述第二物鏡（60）位于所述第二反光元件（80）的反射光路中。

3.根據權利要求2所述的光學系統，其特征在于，所述第二物鏡（60）是聚焦物鏡。

4.根據權利要求1所述的光學系統，其特征在于，所述成像元件（70）是電荷耦合元件。

5.根據權利要求1所述的光學系統，其特征在于，所述光學系統還包括光闌（90），所述光闌（90）設置在所述第一物鏡（20）和所述第二物鏡（60）之間。

6.一種用于檢測綜合驗光儀的光學檢測裝置，其特征在于，包括：

基座（100）；

光學系統，所述光學系統是權利要求1至5中任一項所述的用于檢測綜合驗光儀的光學系統，所述光學系統設置在所述基座（100）上；

發光元件（200），所述發光元件（200）設置在所述基座（100）上，且所述發光元件（200）朝向所述光學系統的分劃板（40）設置；

測量單元（300），用于檢測所述光學系統的調焦元件（50）的移動距離。

7.根據權利要求6所述的光學檢測裝置，其特征在于，所述光學檢測裝置還包括：

平行光管（400），所述平行光管（400）垂直設置在所述基座（100）上，所述平行光管（400）具有透光孔（410），所述光學系統的分光元件（10）設置在所述平行光管（400）內，所述分劃板（40）、所述透光孔（410）和所述分光元件（10）同軸設置，所述光學系統的第一反光元件（30）和第一物鏡（20）設置在所述平行光管（400）的上端，所述成像元件（70）設置在所述平行光管（400）的下端；

導向管（500），所述導向管（500）的第一端與所述基座（100）連接，所述光學系統的第二物鏡（60）設置在所述導向管（500）的第二端，所述第一物鏡（20）與所述第二物鏡（60）對向且同軸設置，所述光學系統的調焦元件（50）滑動設置在所述導向管（500）內。

8.根據權利要求7所述的光學檢測裝置，其特征在于，所述光學檢測裝置還包括導桿（600），所述導桿（600）的至少一部分設置在所述導向管（500）內，且所述導桿（600）的第一端與所述調焦元件（50）連接。