[實(shí)用新型]試驗(yàn)缺陷識(shí)別裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320527652.1
• 申請(qǐng)日: 2013-08-27
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN203443901U
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海美諾福實(shí)驗(yàn)自動(dòng)化有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88;G01B11/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371
• 代理人: 吳開(kāi)磊

1.一種試驗(yàn)缺陷識(shí)別裝置，其特征在于，包括：基座、支架、光源部件、圖形采集組件和通信組件，其中：

所述支架豎直固定于所述基座上，所述基座包括定樣部位；

所述支架包括支架臂，所述支架臂具有端環(huán)，所述支架臂將所述光源部件固定于所述定樣部位的上方；

用于采集部件參量信息的圖形采集組件安裝于所述支架臂的端環(huán)內(nèi)；

用于接收所述圖形采集組件發(fā)出的信號(hào)并與圖像分析設(shè)備連通的所述通信組件設(shè)置于所述基座內(nèi)部。

2.如權(quán)利要求1所述的試驗(yàn)缺陷識(shí)別裝置，其特征在于，所述光源部件包括：白光發(fā)光二極管。

3.如權(quán)利要求1所述的試驗(yàn)缺陷識(shí)別裝置，其特征在于，所述光源部件固定于所述端環(huán)的下方。

4.如權(quán)利要求1所述的試驗(yàn)缺陷識(shí)別裝置，其特征在于，所述圖形采集組件包括：變倍放大鏡頭、工業(yè)攝像機(jī)和成像芯片，所述變倍放大鏡頭設(shè)置于所述工業(yè)攝像機(jī)上，所述工業(yè)攝像機(jī)與所述成像芯片信號(hào)連接。

5.如權(quán)利要求1所述的試驗(yàn)缺陷識(shí)別裝置，其特征在于，所述基座的定樣部位包括靠山臺(tái)。

6.如權(quán)利要求1所述的試驗(yàn)缺陷識(shí)別裝置，其特征在于，還包括：套裝在所述試驗(yàn)缺陷識(shí)別裝置外圍的電磁防塵罩。

7.如權(quán)利要求1所述的試驗(yàn)缺陷識(shí)別裝置，其特征在于，還包括：設(shè)置于所述基座的底部的防震橡膠塊。