[實用新型]一種基于SCE測量結構的測色儀

有效

• 申請號: 201320519382.X
• 申請日: 2013-08-23
• 公開（公告）號: CN203414172U
• 公開（公告）日: 2014-01-29
• 發明（設計）人: 袁琨;鄭健;陳剛
• 申請（專利權）人: 杭州彩譜科技有限公司;中國計量學院
• 主分類號: G01J3/50
• 分類號: G01J3/50;G01J3/02
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268
• 代理人: 王永文;劉文求

1.一種基于SCE測量結構的測色儀，其特征在于，包括積分球和標準光源，所述積分球的側壁設置有一入射口，所述標準光源發出的光線通過所述入射口進入積分球，所述積分球底部設置有對應被測物體的測量口，在與所述測量口的法線方向夾角為8°且靠近標準光源的積分球一側上設置有探測器，在所述積分球另一側上且與探測器對稱的位置處設置有一用于防止被測物體表面的鏡面反射光進入探測器的光阱。

2.根據權利要求1所述的基于SCE測量結構的測色儀，其特征在于，所述光阱為圓柱形。

3.根據權利要求1所述的基于SCE測量結構的測色儀，其特征在于，所述光阱的內壁上設置有多圈螺紋。

4.根據權利要求1所述的基于SCE測量結構的測色儀，其特征在于，所述光阱的底部設置有一鏡面圓錐。

5.根據權利要求4所述的基于SCE測量結構的測色儀，其特征在于，在所述光阱底部設置有一攝像儀。

6.根據權利要求5所述的基于SCE測量結構的測色儀，其特征在于，所述攝像儀設置在所述光阱的底部且在所述鏡面圓錐的頂部。