[實(shí)用新型]縱波橫波一體超聲波探頭

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201320512292.8
• 申請(qǐng)日: 2013-08-21
• 公開（公告）號(hào): CN203443932U
• 公開（公告）日: 2014-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 金彥楓;張延豐;張崢;劉泉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海藍(lán)濱石化設(shè)備有限責(zé)任公司;甘肅藍(lán)科石化高新裝備股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N29/24
• 分類號(hào): G01N29/24
• 代理公司: 甘肅省知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)中心 62100
• 代理人: 馬英

技術(shù)領(lǐng)域

????本實(shí)用新型涉及一種超聲波探頭。

背景技術(shù)

超聲波檢測(cè)鋼板或鍛件時(shí)有時(shí)候要求既進(jìn)行縱波檢測(cè)，又進(jìn)行橫波檢測(cè)；另外對(duì)焊縫的超聲波檢測(cè)時(shí)，更高要求下同時(shí)要對(duì)焊縫及焊縫附近的母材進(jìn)行超聲波檢測(cè)，這就要檢測(cè)兩遍，其一采用縱波直探頭進(jìn)行掃查；其二采用橫波斜探頭進(jìn)行掃查（見圖1），造成掃查效率低下。????

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型提供一種能同時(shí)進(jìn)行縱波、橫波掃查的超聲波探頭，解決普通縱波超聲波探頭、普通橫波超聲波探頭分別掃查效率低的技術(shù)問題。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了如下的技術(shù)方案：

一種縱波橫波一體超聲波探頭，包括斜楔，所述斜楔有一水平面和一斜面，在該斜楔的水平面上設(shè)置縱波壓電晶片，該斜楔的斜面上設(shè)置橫波壓電晶片；所述斜楔與縱、橫波壓電晶片均置于外殼內(nèi)；斜楔上部的外殼內(nèi)填充吸聲材料，斜楔由透聲材料構(gòu)成；縱、橫波壓電晶片上設(shè)置縱、橫波阻尼塊并分別連接縱、橫波電纜線。

所述斜楔側(cè)面開有槽。

本實(shí)用新型掃查時(shí)兩種聲束同時(shí)穿過透聲材料到達(dá)被檢測(cè)材料，互不干涉、互不影響，同時(shí)進(jìn)行縱波、橫波超聲波掃查檢測(cè)，對(duì)普通需要檢測(cè)兩遍的部件可一次完成，自動(dòng)化程度高，檢測(cè)效率高，而且同時(shí)集縱波直探頭、橫波斜探頭為一體，降低了制造成本。

附圖說明

????圖1為現(xiàn)有的縱波和橫波掃查示意圖；

圖2是普通的超聲波縱波直探頭結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是普通的超聲波橫波斜探頭結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本實(shí)用新型的超聲波探頭結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

????下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。

本實(shí)用新型集合常規(guī)縱波直探頭和常規(guī)橫波斜探頭為一體，變兩種超聲波探頭為一種一體化超聲波探頭。如圖4所示。本實(shí)用新型包括吸聲材料1、縱波壓電晶片2、橫波壓電晶片8、縱波阻尼塊3、橫波阻尼塊6、斜楔5、縱波電纜線4、橫波電纜線9和外殼7等。所述斜楔5有一水平面和一斜面（該斜面的傾斜角度一般在45??～75??之間以產(chǎn)生橫波為宜），在該斜楔的水平面上設(shè)置縱波壓電晶片2，該斜楔的斜面上設(shè)置橫波壓電晶片8；所述斜楔5與縱、橫波壓電晶片2、8均置于外殼7內(nèi)；斜楔5上部的外殼7內(nèi)填充吸聲材料1，斜楔5由透聲材料構(gòu)成；縱、橫波壓電晶片2、8上設(shè)置縱、橫波阻尼塊3、6并分別連接縱、橫波電纜線4、9。

另外，為了解決透聲材料內(nèi)雜波的問題，在斜楔5的兩側(cè)面開有間隔排列的豎直槽。

本實(shí)用新型的工作原理，縱波壓電晶片2發(fā)射縱波通過透聲斜楔進(jìn)入到被檢測(cè)工件，聲波進(jìn)入工件仍然是縱波，返回晶片接收；橫波壓電晶片8發(fā)射縱波通過透聲材料？進(jìn)入工件，根據(jù)波形轉(zhuǎn)換原理在工件內(nèi)按照橫波傳遞，返回晶片接收。兩組晶片分別各自反射和接收，共用透聲材料，在工件內(nèi)互不干涉，同時(shí)檢測(cè)，同時(shí)接收。

本實(shí)用新型需要兩通道以上的設(shè)備配合使用，每個(gè)通道單獨(dú)發(fā)射和接收，其一是縱波通道，其二是橫波通道；顯示可單獨(dú)顯示，也可同時(shí)顯示。可同時(shí)對(duì)工件進(jìn)行縱波和橫波掃查，檢測(cè)判斷缺陷。檢測(cè)速度快，檢測(cè)效率高。

在制作本實(shí)用新型時(shí)，要注意以下幾點(diǎn)：

1.兩組晶片不要靠的太近，以免影響。

2.本探頭需要應(yīng)用到兩通道及以上的超聲波檢測(cè)設(shè)備上。?