[實用新型]光學式刀長刀徑檢測裝置有效
| 申請號: | 201320510017.2 | 申請日: | 2013-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN203471481U | 公開(公告)日: | 2014-03-12 |
| 發明(設計)人: | 焦新峰 | 申請(專利權)人: | 南京大量數控科技有限公司 |
| 主分類號: | B23Q17/00 | 分類號: | B23Q17/00;B23Q17/24 |
| 代理公司: | 南京天翼專利代理有限責任公司 32112 | 代理人: | 湯志武 |
| 地址: | 211500 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 長刀 檢測 裝置 | ||
技術領域
本實用新型屬于精密加工設備技術領域,具體涉及一種用于電路板鉆機的改進設備,即光學式刀長刀徑檢測裝置。
背景技術
隨著科技的不斷進步,電路板產品精度要求越發嚴格,為了適應上述的電路板產品品質要求,在電路板鉆孔時必須保證電路板上鉆孔的孔位精度,目前電路板加工程序,將電路板放置于工作臺上,由鉆孔刀具對放置于工作臺上面的電路板進行鉆孔,由于鉆孔的刀具種類比較多,在人為放置刀具時常會出現錯誤。在鉆孔過程中如果刀具出現錯誤,沒有檢測出來,直接鉆孔會導致加工件孔位精度異常,以及孔徑錯誤,另外在鉆孔過程中刀具磨損比較快,加工一段時間后刀徑就會變小,此時異常刀具加工出來的零件孔位會達不到精度要求,或者刀具的長度不夠錯誤時,加工出來的板材會出現不透,刀具長度過長時會鉆到機臺臺面,所以刀具需要及時檢測。如何及時偵測鉆刀的刀長和刀徑,成為該領域所急需解決的技術問題。
發明內容
本實用新型的目的在于提出一種可及時檢測刀長和刀徑的光學式檢測裝置。
為達到上述目的,本實用新型光學式刀長刀徑檢測裝置,包括主軸、刀具及機臺,刀具裝夾在主軸上,其特征是機臺上安裝光學式量測器。
一般地,本實用新型采用可發出鐳射光束的光學式量測器。
本實用新型為保證電路板的加工精度,及時檢測刀具的刀長和刀徑部分,所以在機臺上安裝一個光學式刀長刀徑檢測裝置。工作時,主軸裝夾刀具,刀具移動到機臺上安裝的光學式量測器上,來回和上下移動遮斷量測器發出的鐳射光束,通過遮斷鐳射光束的距離來確定主軸上裝夾的刀具的刀徑和刀長。當主軸抓取刀具后會移動到量測器位置,刀具采用40000轉/min的轉速來回移動遮斷量測器發出的鐳射光束,由刀具開始移動到遮斷光束至完全通過光束距離,就是刀具的刀徑;刀長的部分是刀具由主軸下降時開始遮斷光束到設定的高度時遮斷光束的距離就是所夾刀具的長度。
本實用新型達到的有益技術在于:能及時檢測鉆刀的刀長和刀徑,并確認刀具是否為程式設定的刀具,保證機臺在鉆孔時電路板上孔位尺寸精度。
附圖說明
圖1為本實用新型實施例檢測裝置的結構示意圖。
圖中,1-主軸;2-刀具;3-光學式量測器;4-鐳射光束。
具體實施方式
下面結合實施例和附圖對本實用新型加以詳細描述。
實施例:本實施例檢測裝置如附圖1所示,包括主軸1、刀具2及機臺(附圖中為標出),刀具2裝夾在主軸1上,其主要特點是機臺上安裝光學式量測器3。
當主軸1下降時,主軸1上刀具2刀尖部分會開始遮斷光學式量測器3的鐳射光束4,一直下降到設定的高度時,光學式量測器3會記錄刀尖開始遮斷光束位置到設定位置的距離,此距離為刀具的刀長。
當主軸1移動切割鐳射光束4時,光學式量測器3會記錄刀具2的刀刃部分由開始遮斷光束到離開光束的距離,此距離為刀具的刀徑。?
以上對本實用新型的描述是說明性的,而非限制性的,本專業技術人員理解,在權利要求限定的精神與范圍的內可對其進行許多修改、變化或等效,但是它們都將落入本實用新型的保護范圍內。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南京大量數控科技有限公司,未經南京大量數控科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201320510017.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





