[實用新型]一種用于天線近場測試的掃描裝置

有效

• 申請號: 201320446205.3
• 申請日: 2013-07-25
• 公開（公告）號: CN203337742U
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發明（設計）人: 廖潔;管玉靜;李燦
• 申請（專利權）人: 成都雷電微力科技有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 四川力久律師事務所 51221
• 代理人: 王蕓;熊曉果

1.一種用于天線近場測試的掃描裝置，包括壁面上設置有吸波材料的微波屏蔽暗室，其特征在于：還包括計算機（1）、矢量網絡分析儀（2）、三維移動系統（3）、近場測試探頭（4），所述計算機（1）與矢量網絡分析儀（2）相連，矢量網絡分析儀（2）的輸入端連接到近場測試探頭（4），所述近場測試探頭（4）固定在三維移動系統（3）的多關節機械臂（7）前端，所述三維移動系統（3）還包括PLC控制器（5），多個伺服驅動器，安裝在多關節機械臂上的兩個關節伺服電機、一個探頭升降伺服電機及一個探頭旋轉伺服電機，計算機（1）通過通信網絡（6）連接到PLC控制器（5），PLC控制器（5）的輸出與多個伺服驅動器分別相連，伺服驅動器再與各個伺服電機相連。

2.根據權利要求1所述的用于天線近場測試的掃描裝置，其特征在于：所述三維移動系統（3）包括四個伺服驅動器，分別對應三維移動系統中的四個伺服電機。

3.根據權利要求1所述的用于天線近場測試的掃描裝置，其特征在于：所述近場測試探頭（4）為圓極化探頭。

4.根據權利要求1所述的用于天線近場測試的掃描裝置，其特征在于：所述吸波材料為聚氨酯泡沫或無紡布制成的劈尖形吸收體。

5.根據權利要求1所述的用于天線近場測試的掃描裝置，其特征在于：所述通信網絡（6）包括以太網通訊網絡。