[實用新型]集成電路功能測試儀

有效

• 申請號: 201320433013.9
• 申請日: 2013-07-21
• 公開（公告）號: CN203337779U
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發明（設計）人: 徐瑞;姜占鵬;郭紅
• 申請（專利權）人: 哈爾濱理工大學
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 哈爾濱東方專利事務所 23118
• 代理人: 陳曉光

技術領域：

本實用新型涉及一種集成電路功能測試儀。

背景技術：

集成電路的測試技術隨著集成電路開發應用的飛速發展而發展。集成電路測試儀也從最初測試小規模集成電路發展到測試中規模、大規模和超大規模集成電路。集成電路測試儀按測試門類可分為：數字集成電路測試儀、存儲器測試儀、模擬與混合信號電路測試儀、在線測試系統和驗證系統等。目前市場上的測試儀產品功能較單一，價格非常昂貴，給電路的測試、維護帶來不便。　　

在高等學校的電子實驗教學中，經常要用到如模數轉換器(ADC）、數模轉換器(DAC)、555集成定時電路、3524開關電源控制器等中規模集成電路。由于學生通常是初次接觸使用芯片，經常會由于操作不當造成電路芯片的損傷或損壞，而表面上卻無法作出正確的判斷。在這種情況下，非常需要有適當的集成電路的測試儀，用于測試、判斷芯片的好壞。而市面上又沒有合適的測試儀可供選購。

發明內容：

本實用新型的目的是提供一種集成電路功能測試儀。

上述的目的通過以下的技術方案實現：

一種集成電路功能測試儀，其組成包括：殼體，所述的殼體上安裝有顯示屏、控制按鈕，所述的顯示屏、所述的控制按鈕與安裝在所述的殼體內部的中央處理器連接，所述的中央處理器分別與A/D轉換芯片、地址譯碼器、電源電路連接，所述的A/D轉換芯片。

所述的集成電路功能測試儀，所述的電源電路與安裝在所述的殼體外部的電源指示燈連接。

所述的集成電路功能測試儀，所述的中央處理器為AT89C55單片機、所述的地址譯碼器分別與ADC0809測試電路、DAC0832測試電路、LM555測試電路、WC3524測試電路連接。

有益效果：

本實用新型在接通電源后，電源指示燈亮，表明電源工作正常，顯示器顯示等待測試信息，表明可以開始測試操作。由按鍵選擇所要測試的芯片，顯示光標停留的芯片型號表示是當前待測芯片。每按1次選擇鍵，光標指向下一個型號，不斷地按鍵可以循環選擇。當光標移到所要測試的芯片時，按下確定鍵2，接下來由單片機控制，開始自動測試該芯片，此時對應該芯片的指示燈亮;然后由外部電路或單片機給待測芯片一定的模擬或數字輸入量，經過每個芯片的測試電路后，通過MAX197進行處理（或直接送到單片機），與單片機中預存的標準值進行比較。如果測試值在標準值附近的一定范圍內，則芯片正常，測試指示燈常亮，液晶顯示器顯示OK；否則，芯片出錯，測試指示燈閃爍，液晶顯示器顯示BAD。此芯片測試完畢，按下復位鍵3，即回到初始狀態，可以進行下一輪測試。操作簡單、測試準確、效率高。

附圖說明：

附圖1是本實用新型的結構示意圖。

附圖2是附圖1中ADC0809測試電路的電路原理圖。

附圖3是附圖1中DAC0832測試電路的電路原理圖。

附圖4是附圖1中LM555測試電路的電路原理圖。

附圖5是附圖1中WC3524測試電路的電路原理圖。

附圖6是附圖1中WC3524測試電路的框圖。

具體實施方式：

實施例1：

一種集成電路功能測試儀，其組成包括：殼體1，所述的殼體上安裝有顯示屏2、控制按鈕3，所述的顯示屏、所述的控制按鈕與安裝在所述的殼體內部的中央處理器4連接，所述的中央處理器分別與A/D轉換芯片5、地址譯碼器6、電源電路7連接，所述的A/D轉換芯片。

所述的地址譯碼器分別與ADC0809測試電路8、DAC0832測試電路9、LM555測試電路10、WC3524測試電路11連接。

實施例2：

根據實施例1所述的集成電路功能測試儀，所述的電源電路與安裝在所述的殼體外部的電源指示燈連接。

實施例3：

根據實施例1或2所述的集成電路功能測試儀，所述的中央處理器為AT89C55單片機。

實施例4：