[實用新型]超聲波檢測用缺陷模擬比對試塊有效

申請號：	201320431131.6	申請日：	2013-07-17
公開（公告）號：	CN203422355U	公開（公告）日：	2014-02-05
發明（設計）人：	李述亭;安發順	申請（專利權）人：	浙江方圓金屬材料檢測有限公司
主分類號：	G01N29/30	分類號：	G01N29/30
代理公司：	杭州豐禾專利事務所有限公司 33214	代理人：	曹康華
地址：	310013 ***	國省代碼：	浙江;33
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摘要：
搜索關鍵詞：	超聲波檢測缺陷模擬
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【權利要求書】：

1.一種超聲波檢測用缺陷模擬比對試塊，所述的試塊為鋼制長方體，其特征是：試塊頂面的右半部分為檢測面，在試塊底面的左半部分開設有朝著檢測面方向傾斜的缺陷槽，所述的缺陷槽相對于試塊底面傾斜的角度為30度，缺陷槽的橫截面為平行四邊形，所述的缺陷槽包括槽底及相對設置的前、后槽壁與左、右槽壁，槽底為受檢面，槽底為內凹的弧面，左、右槽壁垂直于試塊底面，前、后槽壁相對于試塊底面傾斜。

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