[實用新型]檢測系統有效
| 申請號: | 201320430307.6 | 申請日: | 2013-07-17 |
| 公開(公告)號: | CN203337570U | 公開(公告)日: | 2013-12-11 |
| 發明(設計)人: | 陳程;呂艷明 | 申請(專利權)人: | 合肥京東方光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/956 | 分類號: | G01N21/956 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 李娟 |
| 地址: | 230011 安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 系統 | ||
1.一種檢測系統,其特征在于,包括:
用于獲取基板的二維圖像信息的圖像采集設備;
用于根據所述二維圖像信息及預先設定的基板規格標準數據檢測所述基板是否缺損的數據處理設備,與所述圖像采集設備相連。
2.如權利要求1所述的系統,其特征在于,還包括:
用于承載基板的基板承載設備,位于所述圖像采集設備的下方。
3.如權利要求1所述的系統,其特征在于,所述圖像采集設備具體為:
電荷耦合元件CCD掃描設備。
4.如權利要求1或3所述的系統,其特征在于,所述圖像采集設備包括:
CCD、與所述CCD相連的CDD驅動電路及連接在所述CCD上的用于增大所述CCD的掃描寬度的透鏡。
5.如權利要求4所述的系統,其特征在于,所述CCD具體為:
線陣CCD;或者
面陣CCD。
6.如權利要求5所述的系統,其特征在于,所述CCD為線陣CCD,所述系統還包括:
用于承載基板的傳送式基板承載設備,位于所述透鏡的下方。
7.如權利要求5所述的系統,其特征在于,所述CCD為面陣CCD,所述系統還包括:
用于承載基板的面板式基板承載設備,位于所述透鏡的下方。
8.如權利要求1所述的系統,其特征在于,所述數據處理設備包括:
用于根據所述二維圖像信息確定所述基板的二維灰度數據的數模轉換卡,與所述圖像采集設備相連;
用于根據所述二維灰度數據及預先設定的基板規格標準數據檢測所述基板是否缺損的處理器,與所述數模轉換卡相連。
9.如權利要求8所述的系統,其特征在于,所述處理器具體為:計算機PC;或者
現場可編程門陣列FPGA;或者
復雜可編程邏輯器件CPLD。
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