[實用新型]納米流體導熱系數測量裝置

有效

• 申請號: 201320422680.7
• 申請日: 2013-07-15
• 公開（公告）號: CN203443908U
• 公開（公告）日: 2014-02-19
• 發明（設計）人: 張寬;潘曉銘;鄭偉
• 申請（專利權）人: 溫州大學
• 主分類號: G01N25/20
• 分類號: G01N25/20;G01N25/18
• 代理公司: 溫州甌越專利代理有限公司 33211
• 代理人: 吳繼道

1.一種納米流體導熱系數測量裝置，包括用于放置納米流體的容器，其特征在于：所述的容器兩側分別設置有供熱裝置和吸熱裝置，所述的容器為可導熱容器，所述的容器將供熱裝置提供的熱量完全傳遞至吸熱裝置，所述的吸熱裝置上設置有吸熱量測量裝置。

2.根據權利要求1所述的納米流體導熱系數測量裝置，其特征在于：所述的吸熱裝置為放置有0℃的冰塊的第一保溫室，所述的吸熱量測量裝置包括量杯及設置于量杯下方的測重儀，所述的量杯與第一保溫室底部之間設置有用于將冰吸熱融化的液態水引出第一保溫室的流動管道。

3.根據權利要求2所述的納米流體導熱系數測量裝置，其特征在于：所述的供熱裝置包括放置有恒定溫度的蒸汽的第二保溫室，所述的第二保溫室上設置有提供恒定溫度蒸汽的蒸汽源，所述的蒸汽源和第二保溫室之間設置有保溫管道，所述的保溫管道設置有用于控制蒸汽源開閉的閥門。

4.根據權利要求3所述的納米流體導熱系數測量裝置，其特征在于：所述的第一保溫室貼合設置于第二保溫室上方，所述的第一保溫室與第二保溫室之間設置有與容器外形相適配且與外界隔絕的安裝口。

5.根據權利要求1或2或3或4所述的納米流體導熱系數測量裝置，其特征在于：所述的容器為標準試管。