[實用新型]一種取樣門及X射線熒光光譜儀

有效

• 申請號: 201320411646.X
• 申請日: 2013-07-11
• 公開（公告）號: CN203337580U
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發明（設計）人: 楊寧波
• 申請（專利權）人: 深圳市禾苗分析儀器有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 廣東國暉律師事務所 44266
• 代理人: 鄧鉅明

1.一種取樣門，適用于X射線熒光光譜儀，其特征是：包括密封蓋座和底座，所述的密封蓋座上嵌裝鉛玻璃片。

2.根據權利要求1所述的取樣門，其特征是：所述的密封蓋座的中間開設有用于鑲嵌所述的鉛玻璃片的窗口，所述的鉛玻璃片鑲嵌在所述的窗口內。

3.根據權利要求1所述的取樣門，其特征是：在所述鉛玻璃片的邊緣設有用于固定所述的鉛玻璃片的固定邊。

4.根據權利要求3所述的取樣門，其特征是：所述的固定邊開設有螺孔，采用螺絲將所述的固定邊和所述的密封蓋座進行固定。

5.根據權利要求4所述的取樣門，其特征是：所述的螺孔為三個，且呈均勻分布。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的取樣門，其特征是：所述的密封蓋座和所述的底座之間設有氣彈簧。

7.根據權利要求1至5中任一項所述的取樣門，其特征是：所述的密封蓋座的邊緣設有手位槽。

8.根據權利要求1至5中任一項所述的取樣門，其特征是：所述的密封蓋座和所述的底座活動連接。

9.根據權利要求1至5中任一項所述的取樣門，其特征是：所述的底座上設有緩沖片。

10.一種X射線熒光光譜儀，包括機箱、樣品室和如權利要求1至9中任一項的取樣門，其特征是：所述的底座固定設置在所述的機箱上，所述的鉛玻璃片通過密封圈與所述的樣品室連接。