[實用新型]一種X-熒光光譜分析用超載膜

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201320406311.9
• 申請日: 2013-07-09
• 公開（公告）號: CN203365213U
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發(fā)明（設計）人: 回寒星;王卿
• 申請（專利權）人: 回寒星;王卿
• 主分類號: G01N1/40
• 分類號: G01N1/40;G01N23/223
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種X-熒光光譜分析用超載膜，包括聚脂膜片及富集膜，富集膜設置在聚脂膜片頂面，其特征在于，所述富集膜包括承載區(qū)富集膜及緩沖區(qū)富集膜，承載區(qū)富集膜設置在聚脂膜片中心位置，緩沖區(qū)富集膜環(huán)繞設置在承載區(qū)富集膜的外側，在承載區(qū)富集膜與緩沖區(qū)富集膜之間設置有隔離疏水膜。

2.根據(jù)權利要求1所述的X-熒光光譜分析用超載膜，其特征在于，兩個緩沖區(qū)富集膜依次環(huán)繞設置在承載區(qū)富集膜外側，承載區(qū)富集膜與緩沖區(qū)富集膜之間，以及兩個緩沖區(qū)富集膜之間均設置有隔離疏水膜。