[實用新型]優化CD碟測試裝置

有效

• 申請號: 201320386687.8
• 申請日: 2013-07-01
• 公開（公告）號: CN203351202U
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 周詞林;李雪;黃玉梅;羅學高
• 申請（專利權）人: 重慶徐港電子有限公司
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18
• 代理公司: 重慶市前沿專利事務所(普通合伙) 50211
• 代理人: 郭云

技術領域

本實用新型涉及CD碟片優化領域，尤其涉及一種優化CD碟測試裝置。

背景技術

CD光盤的刻錄是將每首歌曲由內到外刻錄到光盤上的，一般測試用的CD碟只刻錄6首曲目（6首曲目均存儲在碟片的里層），測試時由一首曲目跳至下一首曲目需要2S，而等該首曲目播放至穩定再測試時需要5S。整個CD碟的測試時間長達40S，且無法測試光頭讀碟外邊緣時是否會發生卡死的現象。如圖2所示，為現有技術中CD碟片刻錄的狀態，如圖3所示，為現有技術中對CD機曲目讀取時間示意圖。

傳統的CD機只能順序的從內向外讀取CD碟片，如果CD碟片外側沒有數據，不能直接測試最外側的CD碟片是否刻錄正常，這樣對于CD碟片來說，成品合格率不能得到有效的保障，CD機在現有技術領域并沒有有效的改進方案。

實用新型內容

本實用新型旨在至少解決現有技術中存在的技術問題，特別創新地提出了一種優化CD碟測試裝置。

為了實現本實用新型的上述目的，本實用新型提供了一種優化CD碟測試裝置，包括：PC機、CD機和信號采集卡，所述PC機連接CD機，用于給CD機發送控制信號的，以及對信號采集卡上的數據進行收集分析的，CD機輸出聲道數據線連接信號采集卡；其中，所述CD機包括：CD主板、機芯伺服電路、激光頭和顯示面板；

所述CD機設置有機芯伺服電路，CD碟片放置于CD機芯驅動器上，所述CD機控制所述機芯伺服電路的轉動速度，使所述CD碟片平穩的運轉；

所述機芯伺服電路連接激光頭，CD機芯驅動器控制激光頭讀取CD碟片內容；

所述激光頭連接顯示面板，用于將激光頭讀取的數據通過所述顯示面板進行顯示輸出。

上述技術方案的有益效果為：通過PC機、CD機、CD機芯驅動器、激光頭、顯示面板和信號采集卡的相互連接，降低了ＣＤ測試的時間，測試一張碟片的時間減少13Ｓ，降低測試時間，提高測試效率，增加產能；能夠發現機芯光頭跳轉至ＣＤ碟片最外邊緣讀取時，是否會放生卡死的現象，能夠控制產品的質量。

所述的優化CD碟測試裝置，優選的，所述顯示面板包括：

輸出曲目模塊，用于根據用戶需求，調整激光頭所讀取的CD碟片數據的位置，將曲目通過顯示面板進行輸出，將激光頭讀取的數據與預存的CD數據進行對比。

所述的優化CD碟測試裝置，優選的，還包括：測試模塊，所述PC機設置測試模塊，用于將信號采集卡對CD碟片所采集的數據結果發送到PC機，由PC機中的測試模塊對采集的數據進行測評分析。

上述技術方案的有益效果為：當測試模塊連接PC機時，所述測試模塊能夠隨意調節激光頭工作，測試CD碟片的成品優良狀況。

所述的優化CD碟測試裝置，優選的，所述CD機還包括：控制模塊；所述機芯伺服電路連接控制模塊一端，所述控制模塊另一端連接激光頭，所述控制模塊用于控制激光頭讀取模塊的讀取位置。

上述技術方案的有益效果為：所述控制模塊用于控制激光頭的讀取位置。

所述的優化CD碟測試裝置，優選的，還包括：還包括：存儲模塊；所述PC機還連接存儲模塊一端，所述存儲模塊另一端連接測試模塊，所述存儲模塊用于將測試模塊的測試結果傳輸到存儲模塊進行存儲。

上述技術方案的有益效果為：所述存儲模塊用于將測試模塊的測試結果傳輸到存儲模塊進行存儲。

所述的優化CD碟測試裝置，優選的，所述激光頭讀取模塊包括2-4個激光頭。

上述技術方案的有益效果為：當激光頭讀取模塊為2-4個激光頭時，能夠更好的測試CD碟片。

所述的優化CD碟測試裝置，優選的，所述CD機由12.5V-14V電源控制。

上述技術方案的有益效果為：所述CD機由12.5V-14V電源控制，12.5V-14V的電源給CD機提供穩定的電源電壓，保持對CD碟片的測試穩定。

綜上所述，由于采用了上述技術方案，本實用新型的有益效果是：

通過PC機、CD機、CD機芯驅動器、激光頭讀取模塊和測試模塊的相互連接，降低了ＣＤ測試的時間，測試一張碟片的時間減少13Ｓ，降低測試時間，提高測試效率，增加產能；能夠發現機芯光頭跳轉至ＣＤ碟片最外邊緣讀取時，是否會放生卡死的現象，能夠控制產品的質量。

本實用新型的附加方面和優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本實用新型的實踐了解到。

附圖說明

本實用新型的上述和/或附加的方面和優點從結合下面附圖對實施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中：

圖1是優化CD碟測試裝置結構示意圖；