[實用新型]一種新型半導體電阻測試系統有效
| 申請號： | 201320386125.3 | 申請日： | 2013-06-27 |
| 公開（公告）號： | CN203350362U | 公開（公告）日： | 2013-12-18 |
| 發明（設計）人： | 卓彬;賀賢漢;呂慶鑫 | 申請（專利權）人： | 杭州大和熱磁電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/02 | 分類號： | G01R27/02;G01R21/14 |
| 代理公司： | 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109 | 代理人： | 尉偉敏 |
| 地址： | 310053 浙*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 新型 半導體 電阻 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
1.?一種新型半導體電阻測試系統，特征在于：包括主機（1），所述主機外接溫度采集器（2）和若干臺電阻測試器（3），所述主機包括中央處理器模塊、輸入模塊、人機交互模塊和電源模塊，所述輸入模塊與溫度采集器和電阻測試器連接。
2.根據權利要求1所述的一種新型半導體電阻測試系統，其特征在于：所述電阻測試器（2）為毫歐測阻儀。
3.根據權利要求1所述的一種新型半導體電阻測試系統，其特征在于：所述溫度采集器（3）外接溫度傳感器。
4.根據權利要求1或2或3所述的一種新型半導體電阻測試系統，其特征在于：所述人機交互模塊外接顯示單元和功能按鈕單元，所述顯示單元為液晶顯示屏（4）或觸摸屏，所述功能按鈕單元為數字鍵盤（5）或觸摸屏。
5.根據權利要求1所述的一種新型半導體電阻測試系統，其特征在于：所述主機（1）還包括通信模塊。
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