[實(shí)用新型]一種用于測量光盤盤基厚度的檢測計有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201320376590.9 | 申請日： | 2013-06-27 |
| 公開（公告）號： | CN203364796U | 公開（公告）日： | 2013-12-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張書庭 | 申請（專利權(quán)）人： | 開平市盈光機(jī)電科技有限公司 |
| 主分類號： | G01B21/08 | 分類號： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人： | 喻新學(xué) |
| 地址： | 529300 廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 用于 測量 盤盤 厚度 檢測 | ||
1.一種用于測量光盤盤基厚度的檢測計，其特征在于：包括一端設(shè)置有定位柱（2）的底座（1），所述底座（1）的另一端設(shè)置有能夠在其上水平滑動的滑臺（3），該滑臺（3）的上部沿著朝向定位柱（2）的方向水平延伸有一水平支撐臂（30），所述水平支撐臂（30）的自由端設(shè)置有一個用于測量光盤盤基厚度的測量用表頭（4）。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于測量光盤盤基厚度的檢測計，其特征在于：所述底座（1）靠近定位柱（2）一端的上表面設(shè)置有一個用于支撐光盤盤基的光滑凸臺（10）。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于測量光盤盤基厚度的檢測計，其特征在于：所述光滑凸臺（10）的平面度小于或等于0.002。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的一種用于測量光盤盤基厚度的檢測計，其特征在于：所述底座（1）上設(shè)置有一條能夠讓所述滑臺（3）沿著其水平移動的導(dǎo)軌（11），所述導(dǎo)軌（11）的上表面設(shè)置有若干個與所述定位柱（2）相隔一定距離的定位孔（110），所述滑臺（3）上設(shè)置有能夠與所述定位孔（110）相配合使用的定位螺栓（31）。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于測量光盤盤基厚度的檢測計，其特征在于：所述定位孔（110）的數(shù)量為五個。
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