[實用新型]利用連續473nm激光器測量固體中稀土離子輻射壽命的裝置

有效

• 申請號: 201320373917.7
• 申請日: 2013-06-27
• 公開（公告）號: CN203287319U
• 公開（公告）日: 2013-11-13
• 發明（設計）人: 秦江;張治國
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工大北新恒業能源科技有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 哈爾濱市偉晨專利代理事務所(普通合伙) 23209
• 代理人: 張偉

1.利用連續473nm激光器測量固體中稀土離子輻射壽命的裝置，它由激光器（1）、電光調制器（2）、偏振片（3）、一號透鏡（4）、二號透鏡（6）、光譜儀（7）、光電探測器（8）、數據采集卡（9）、方波發生模塊（10）、高壓模塊（11）和計算機（12）組成；

其特征在于：所述激光器（1）發出的連續激光的波長為473nm，光電調制器（2）的電壓輸入端與高壓模塊（11）的電壓輸出端連接，方波發生模塊（10）與高壓模塊（11）的輸入端連接，方波發生模塊（10）產生方波控制信號，并輸入至高壓模塊（11），高壓模塊（11）用于驅動電光調制器（2）；方波發生模塊（10）與數據采集卡（9）連接，用于將觸發信號輸入至數據采集卡（9）；

激光器（1）發出的連續激光入射至電光調制器（2），經過電光調制器（2）對偏振方向進行調制后，經過偏振片（3），通過一號透鏡（4）聚焦到待測稀土樣品（5）上，激發待測稀土樣品（5）產生熒光，所述熒光入射至二號透鏡（6），經二號透鏡（6）會聚至光譜儀（7）的光接收端，經光譜儀（7）分光獲得熒光信號；

光電探測器（8）的輸入端與光譜儀（7）連接，光電探測器（8）的輸出端與數據采集卡（9）連接，光電探測器（8）用于探測經光譜儀（7）分光的熒光信號，并將探測信號輸入數據采集卡（9）建立探測結果的衰減曲線，數據采集卡（9）的數據輸出端與計算機（12）連接，用于將采集信息存儲至計算機（12），并對所述探測結果的衰減曲線進行擬合。

2.根據權利要求1所述的利用連續473nm激光器測量固體中稀土離子輻射壽命的裝置，其特征在于：高壓模塊（11）輸出的直流電壓驅動電光調制器（2），其高壓調節范圍是-230V～230V。

3.根據權利要求2所述的利用連續473nm激光器測量固體中稀土離子輻射壽命的裝置，其特征在于：激光器（1）發出的連續激光為連續釹離子激光。

4.根據權利要求3所述的利用連續473nm激光器測量固體中稀土離子輻射壽命的裝置，其特征在于：計算機（12）與光譜儀（7）連接，用于控制光譜儀（7）旋轉。