[實用新型]一種保持光學測試樣品處于低溫狀態的裝置

有效

• 申請號: 201320362307.7
• 申請日: 2013-06-21
• 公開（公告）號: CN203455157U
• 公開（公告）日: 2014-02-26
• 發明（設計）人: 賀香榮;汪洋;張亞妮;陳安森;莊馥隆
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海技術物理研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 郭英

1.一種保持光學測試樣品處于低溫狀態的裝置，它包括箱體（1）、上蓋板（2）、金屬環（3）、冷頭（4）、加熱片（7）和測溫元件（8），其特征在于：箱體（1）的上部通過螺紋與上蓋板（2）連接；箱體ZnSe窗口（6）用低溫膠膠接在箱體（1）底部的通光孔上，上蓋板ZnSe窗口（5）用低溫膠膠接在上蓋板（2）的通光孔上；冷頭（4）通過錫焊固定在箱體（1）圓柱形空腔底部的中央處；金屬環（3）嵌在冷頭（4）上部的凹槽中；加熱片（7）和測溫元件（8）用低溫膠膠接在冷頭（4）的側面，加熱片（7）和測溫元件（8）的導線通過安裝在箱體（1）正面的加熱片接線端（9）和測溫元件接線端（10）引出；液氮導進管（11）和液氮導出管（12）安裝在冷頭（4）的側面，并從測試箱的正面引出，液氮導進管（11）與液氮輸入裝置連接在一起；氣體輸入管接頭（13）和氣體輸出管接頭（14）安裝在箱體（1）的左側。?

2.根據權利要求1所述的一種保持光學測試樣品處于低溫狀態的裝置，其特征在于：所述的箱體（1）是一個鋁制的正方形金屬體，中間有一圓柱形空腔，底部中央有一通光孔，上部有與上蓋板（2）連接的螺紋。?

3.根據權利要求1所述的一種保持光學測試樣品處于低溫狀態的裝置，其特征在于：所述的上蓋板（2）為一鋁制的圓形蓋板，中間有一通光孔，下部有與箱體（1）連接的螺紋。?

4.根據權利要求1所述的一種保持光學測試樣品處于低溫狀態的裝置，其特征在于：所述的金屬環（3）的材料為金屬鋁。?

5.根據權利要求1所述的一種保持光學測試樣品處于低溫狀態的裝置，其特征在于：所述的冷頭（4）為一柯伐合金制成的中空的圓柱體。?

6.根據權利要求1所述的一種保持光學測試樣品處于低溫狀態的裝置，其?特征在于：所述的加熱片（7）為一薄膜型電阻。?

7.根據權利要求1所述的一種保持光學測試樣品處于低溫狀態的裝置，其特征在于：所述的測溫元件（8）為一Pt-100型的鉑電阻。?