[實(shí)用新型]用于高溫環(huán)境下光電模塊性能測(cè)試的外部測(cè)試板有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201320355658.5 | 申請(qǐng)日: | 2013-06-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203396859U | 公開(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃宏光;張華;李旻;彭昌睿;顧益雙;楊書佺 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 四川電力科學(xué)研究院;四川大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01M11/02 |
| 代理公司: | 成都行之專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 梁田 |
| 地址: | 610000 四*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 高溫 環(huán)境 光電 模塊 性能 測(cè)試 外部 | ||
1.用于高溫環(huán)境下光電模塊性能測(cè)試的外部測(cè)試板,包括PCB電路安裝板,其特征在于:還包括設(shè)置在PCB電路安裝板上的I2C總線多路復(fù)用器、模擬多路復(fù)用器、DSP,I2C總線多路復(fù)用器和模擬多路復(fù)用器的輸入端與內(nèi)部測(cè)試板連接,輸出端與DSP連接,DSP的輸出端與電平轉(zhuǎn)換芯片連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于高溫環(huán)境下光電模塊性能測(cè)試的外部測(cè)試板,其特征在于:所述的I2C總線多路復(fù)用器的輸入端接收內(nèi)部測(cè)試板輸出的包含發(fā)送光功率、接收光功率、溫度、SPP工作電壓和SFP工作偏置電流的I2C診斷信號(hào)并傳輸至DSP,模擬多路復(fù)用器的輸入端接收,DSP將接收到的信號(hào)進(jìn)行計(jì)算后通過電平轉(zhuǎn)換芯片連接串口輸出。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于高溫環(huán)境下光電模塊性能測(cè)試的外部測(cè)試板,其特征在于:還包括供電電源,供電電源分別與I2C總線多路復(fù)用器、模擬多路復(fù)用器、DSP、串口轉(zhuǎn)換器連接。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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